中古 ADE / KLA / TENCOR AFS 3220 #293586543 を販売中

ADE/KLA/TENCOR AFS 3220は、ウェーハおよびその他の半導体材料の表面における粒子レベルの特徴の観察および分析に使用される主要なウェーハ試験および計測機器です。半導体製品の表面特性の詳細を理解することは重要です。なぜなら、その性能と最終的にデバイスの品質を定義するからです。ADE AFS 3220は、粒子、マーキング、構造的および幾何学的特徴、および珍しい形状を含む広範囲にわたる特徴を測定できる、正確で包括的な3D表面計測ソリューションを提供します。スキャンおよびトポグラフィー技術を使用して、これらの特徴の曲率の表面の均等性、幅、高さ、および半径を測定できます。KLA AFS 3220は、ウェーハテストと計測に最適な2つのメインスキャンモードを提供します。最初のスキャンモードはラインスキャンで、広い範囲での高速測定に使用されます。このモードは、生の形状と表面の地形データを非常に迅速にキャプチャします。2つ目のスキャンモードは、高解像度データをより詳細にキャプチャするエリアスキャンです。このモードは、粒子表面フィーチャーの詳細な解析に使用できます。このシステムには、高解像度イメージングセンサー、レーザー精密スキャンステージ、および正確で信頼性の高いイメージングのための自動アルゴリズムが装備されています。また、高精度のZレンジポジショニングユニットを内蔵しており、より広い視野範囲と広範囲のサーフェスフィーチャーを可能にします。AFS 3220の主な特徴は、手動でのイメージング手順を排除し、結果を再現可能にする自動イメージングプロセスです。また、直感的なユーザーインターフェイスを提供し、トレーニング時間を最小限に抑えることができます。全体として、TENCOR AFS 3220は信頼性が高くユーザーフレンドリーなマシンであり、ユーザーは精度の高い半導体製品の幅広い粒子レベルの表面特性をキャプチャ、分析、レポートすることができます。ウェーハテストと計測の効率的かつ正確な評価が必要な方には欠かせないツールです。