中古 ADE / KLA / TENCOR AFS 3220 #293660057 を販売中

ADE / KLA / TENCOR AFS 3220
ID: 293660057
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2003
Wafer inspection system, 12" 2003 vintage.
ADE/KLA/TENCOR AFS 3220は、半導体製造などの産業用途向けに開発された高性能ウェーハ試験および計測機器です。正確なプロセスとウェーハ検査、計測、分析のための包括的な機能を提供します。ADE AFS 3220は、ウェーハプローバ、光学計測システム、その他のサブシステムとの互換性の高い測定およびテストツールの幅広い使用を可能にする堅牢な測定およびテストインタフェースで設計されています。これにより、電気特性評価、3Dイメージング、臨界寸法測定、薄膜トポグラフィ、表面トポロジ測定など、さまざまな特性評価タスクが可能になります。このシステムは、自動テストユニットを統合して、データの収集と分析を迅速化します。また、高度な統計技術とデータのリアルタイム分析をサポートする強力なデータ分析機能も搭載しています。このツールは、根本原因解析を実行し、プロセスパラメータ間の相関関係を特定し、外れ値を特定することができます。グラフィカルユーザーインターフェイス(GUI)は、直感的で使いやすい環境を提供し、迅速かつ効率的なデータ分析を実現します。また、KLA AFS 3220は、ウェハの分類とソート機能も提供します。これにより、ウェーハの準備とテストのプロセスを自動化し、テスト結果に基づいてウェーハをグレードグループに分類することができます。これは半導体デバイスの大量製造にとって重要な機能です。プロセスの最適化のために、TENCOR AFS 3220は、包括的なプロセスおよびデバイス分析ツールを含む完全に自動化された反復可能な制御アセットを統合します。このモデルは、プロセスの問題を迅速かつ正確に特定し、プロセスの歩留まりを最大化するのに役立ちます。この機器には、各ウェハのプロセス情報を保存および分析するための高度なログブック機能も含まれています。全体として、AFS 3220は、大量の産業用半導体製造プロセス向けに設計された使いやすく、強力で信頼性の高いシステムです。包括的な測定およびテスト機能、高速データ分析、高度なプロセス制御機能により、ウェーハのテストと計測にとって非常に貴重なツールとなります。
まだレビューはありません