中古 ADE / KLA / TENCOR AFS 3220 #293645321 を販売中
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ADE/ASF 3220は、ドーパント濃度を含む半導体ウェーハの物理的および電気的属性を測定するために使用されるウェーハ試験および計測機器です。このシステムには、さまざまなウェーハ品質保証関連タスクを実行するように設計された専門機器が多数含まれています。ウェーハテストおよび計測システムには、Web対応のデータ収集ユニットが組み込まれており、ユーザーフレンドリーなインターフェイスと、テストおよび測定活動からデータを収集するための安全でスケーラブルなプラットフォームを提供します。このマシンは、WindowsやLinuxなどの複数のオペレーティングシステムをサポートし、複数のテストおよび計測プロセスの自動スケジューリングを可能にします。このツールには、データ操作と統計分析のための強力なソフトウェアも含まれています。このアセットは、高速スキャン電子顕微鏡と高度なイメージング技術を使用して、単一または複数のウェハを分析することができます。ウェーハサイズや形状形状も重要な特性であり、モデルの自動ウェーハ形状およびサイズ測定ツールで測定することができます。また、光学発光分光法を使用して、テストウエハのドーパント濃度を測定することもできます。インターフェイスプロファイルを測定するための深度プロファイルや、歩留まり最適化のためのスキャン静電容量顕微鏡などの他の試験も装置で実行できます。このシステムはまた、テストプロセス中に収集されたデータセットを簡単に分析できる一連のソフトウェアパッケージと統合しています。高度なソフトウェアライブラリは、複雑な分析タスクを処理する能力を高めます。また、さまざまなグラフィカルユーザーインターフェイスをサポートしているため、ウェーハサーフェスパラメータや複雑なデバイスアーキテクチャをすばやく評価できます。全体として、ADE/KLA/TENCOR AFS 3220ウェハテストおよび計測機械は包括的で包括的なテスト機能を提供します。この高度なツールにより、ユーザーは最高品質を保証するために、半導体ウェーハの物理的および電気的パラメータを自信を持って測定することができます。このアセットは、ユーザーフレンドリーなインターフェイスと高度なソフトウェア分析ツールを提供し、さまざまなカウントおよび計測タスクに適用できます。
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