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NANOMETRICS NanoSpec 4150 #293650216

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NanoSpec 4150

Film thickness measurement system.
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NanoSpec 4150

Wafer measurement, up to 8", 1998 vintage.
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NanoSpec 4150

Thin film analyzer, 4"-8" Olympus M Plan 5x, 10x, 50x ULWD objectives Spot size 3 - 60 microns.
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