中古 NANOMETRICS NanoSpec 4150 #9063007 を販売中

ナノメトリクスNanoSpec 4150は、生産レベルの計測用に特別に設計された最先端のマスクおよびウェーハ検査装置です。高速で高解像度のフルフィールドカラーイメージング機能を提供し、マイクロエレクトロニクスデバイスの性能を最適化しようとするメーカーにとって理想的なツールです。NanoSpec 4150の光学システムは、高度なマルチチャネル、シングルポイントイルミネーションを使用して、サブミクロンレベルでウェーハとマスクをスキャンします。これにより、最大83マイクロメートルの解像度で、非常に正確な画像処理が可能になります。光学ユニットはまた、試験片に不均等な照明効果がないことを保証し、パッケージが一貫した画質を作り出すことを可能にします。このマシンのインテリジェントアルゴリズムは、欠陥をすばやく識別し、それらが正確に測定され、仕様と比較されることを保証します。また、深く拡散したヒロックなどの困難な欠陥を標的にすることができ、マッチング障害、ボイドパッケージ、およびカラーバリエーションの分析を行うことができます。このツールには、自動化されたビン留め測定や配置測定などの一連の測定および分析ツールも装備されており、高速なデータ収集と分析が可能です。電子顕微鏡やスキャン顕微鏡などの他のシステムとの併用も可能です。ナノメトリクスNanoSpec 4150は、non-Class-100のクリーンルーム環境での信頼性の高い動作用に設計されています。極端な温度変動にさらされても、反復可能な性能を実現します。その堅牢な構造により、ウェーハやマスクのさまざまなサイズや構成に素早く簡単に適応できます。NanoSpec 4150は、その優れた機能に加えて、便利で費用対効果の高い操作も提供します。セットアップと校正時間を最小限に抑え、非常に使いやすいです。また、既存のファブ環境と簡単に統合でき、お客様の特定の要件に合わせてカスタムプログラムすることもできます。全体として、NANOMETRICS NanoSpec 4150は、最高レベルの精度と精度を必要とするメーカーにとって理想的なマスクおよびウェーハ検査資産です。その直感的なソフトウェアとハードウェアプラットフォームは使いやすく、堅牢な構造は信頼性と再現性の高いパフォーマンスを保証します。したがって、マイクロエレクトロニクスコンポーネントの品質と性能を最適化しようとしている組織にとっては、優れた選択肢です。