中古 JEOL JSM 7500F #293623399 を販売中

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製造業者
JEOL
モデル
JSM 7500F
ID: 293623399
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL JSM 7500Fは、高度な分析機能とイメージング性能を提供する走査型電子顕微鏡(SEM)です。JEOL JSM-7500Fは、5倍から3万倍までの柔軟な倍率を備えており、精密なディテールを正確に撮影することができます。JSM 7500Fの安定性と信頼性の高いカラム設計により、高解像度で正確な画像を保証します。JSM-7500Fは、詳細な分析のために高度なイメージング技術の配列を使用しています。これには、従来の二次電子(SE)イメージング、背面散乱電子(BSE)イメージング、X線マイクロアナリシス、カソドルミネッセンス(CL)イメージングが含まれる。異なるイメージングモードを組み合わせて使用することで、サンプルの組成や厚さなどの特性を観察することができます。JEOL JSM 7500Fは、運転中の高真空環境を維持するために設計された真空チャンバーを備えています。これは微妙な標本への熱損傷を防ぎ、サンプルの有機的完全性を維持するのに役立ちます。さらに、SEMは、サンプルドリフトのリスクを低減し、イメージング品質を向上させるための低振動設計も備えています。顕微鏡は直感的なユーザーインターフェイスを使用して操作され、ユーザーは簡単に機能と設定をナビゲートすることができます。ソフトウェアは自動操作が可能で、画像や統計の形でフィードバックを提供しながら、画像の大規模なバッチを実行することができます。高度なユーザーのために、顕微鏡はまた、画像処理ソフトウェアパッケージなどの様々な他のツールやアクセサリと互換性があります。JEOL JSM-7500Fは、優れた画像キャプチャ機能を提供します。高速イメージングのオプションにより、サンプルの急速な変化をキャプチャできます。さらに、JSM 7500Fは、自動運転、サンプル交換、自動フォーカスなどの高度なオートメーション機能もサポートしています。これにより、装置はさまざまな用途に適しており、迅速なサンプル処理を容易にします。要するに、JSM-7500Fは柔軟で信頼性の高いスキャン電子顕微鏡であり、優れたイメージングおよび分析機能を提供します。直感的なユーザーインターフェイス、強力なオートメーション機能、高度なイメージング技術を備えたJEOL JSM 7500Fは、サンプルの詳細な分析をお探しの方に最適な強力なリサーチツールです。
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