中古品 走査型電子顕微鏡 を販売中
Scanning Electron Microscope （SEM）は、様々な科学および産業用アプリケーションで使用される強力なツールで、サンプルの表面を高解像度で検査します。従来の光学顕微鏡とは異なり、SEMは光の代わりに電子を使用して画像を生成します。SEMでは、電子の集束ビームがサンプル表面をスキャンされ、電子とサンプルの相互作用が検出されて画像に変換される様々な信号を生成します。一次電子ビームは表面を高精度にスキャンし、サンプルの地形や形態を詳細に調べることができます。SEMの主な利点の1つは、高解像度イメージングを実現する能力です。電子ビームは小さなスポットサイズに集中することができ、光学顕微鏡に比べてはるかに高いレベルのディテールを得ることができます。これにより、SEMは顕微鏡の特徴や構造を調べるのに特に有用である。SEMはまた、サンプルの組成と元素分析に関する貴重な情報を提供します。SEMは、試料から放出された二次電子と後方散乱電子を検出して分析することで、試料内の元素の化学組成と分布に関する洞察を提供することができます。SEMには、さまざまな分野でさまざまなアプリケーションがあります。材料科学では、金属、セラミックス、ポリマーなどの材料の微細構造を研究するために使用されます。生物学では、細胞構造、組織、および微生物を調べるのに役立ちます。SEMは、半導体業界でも障害解析や品質管理に広く使用されています。結論として、走査型電子顕微鏡は、高分解能イメージングおよび元素解析機能を提供する強力な機器です。その汎用性と幅広い用途により、科学研究、材料特性評価、産業プロセスにおける貴重なツールとなっています。
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