中古 JEOL JSM 7500F #9356461 を販売中

製造業者
JEOL
モデル
JSM 7500F
ID: 9356461
ヴィンテージ: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM) LABE Detector STEM Detector 2010 vintage.
JEOL JSM 7500Fは、タングステンフィラメントから生成された電子ビームをスキャンして検出することにより、生物学的および非生物学的サンプルの非常に詳細な画像を生成する自動走査電子顕微鏡(ASEM)です。材料科学、ナノテクノロジー、医学、産業計測など、さまざまな分野の高性能イメージング用に設計されています。JEOL JSM-7500Fは、高解像度イメージングのためのフィールドエミッションガン(FEG)、デジタル信号処理(DSP)、エネルギーフィルタリングアプリケーション(EFTEM)などの高度な技術を活用しています。電子顕微鏡の対物レンズによる収差をACACシステムを応用して補正する、収差補正収差補正(ACAC)技術という特許技術に基づいています。これにより、サンプル画像の解像度が大幅に向上します。JSM 7500Fには、高度なDigital Imaging and Analysis Open Platform (DIOP)ソフトウェアが搭載されており、サンプルの高解像度画像を効率的に取得および分析することができます。SE(二次電子)、EDX(エネルギー分散X線)、 EBIC(電子ビーム誘導電流)、EFTEM(エネルギーフィルタリング伝送電子顕微鏡)など、さまざまなイメージングモードにアクセスできます。JSM-7500Fは信頼でき、作動しやすい非常に耐久の器械です。それにサンプルへの容易なアクセスのための曲げられたPCおよび傾斜可能な分野の放出銃(FEG)があります。また、自動アライメント機能、スキャン機能、フォーカシング機能も備えているため、ユーザーは正確な結果を得ることができます。JEOL JSM 7500Fは、汎用性が高く、パワフルで高解像度のイメージングシステムをお探しのお客様に最適です。マルチイメージングモード、高解像度、堅牢な画像解析機能により、幅広い用途に適しています。クリアでディテールの高い画像を作成することができ、サンプルをより深く検査することができます。結論として、JEOL JSM-7500Fは、さまざまな分野で使用するために設計された高性能スキャン電子顕微鏡です。その高度な技術により、正確で詳細な画像処理が可能になり、自動化された機能により使いやすくなります。マテリアルサイエンスからメディカルイメージングまで、さまざまな研究用途に適しています。
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