中古 JEOL JEM 2000FX #9239696 を販売中

JEOL JEM 2000FXは、ナノスケール構造の高度なイメージングと解析用に設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。高解像度検出器、可変圧力動作、および幅広い試料実装オプションを備えています。JEM 2000FXは、0。6ナノメートルの解像度で作業サンプル画像を生成できる3。5メガピクセルの高解像度検出器を備えています。これにより、小さなナノスケールのオブジェクトの詳細なイメージングと分析が可能になります。さらに、検出器は二次電子、反射電子および送信電子を検出することができます。このマルチビームシステムは、画像の取得と処理をこれまで以上に簡単かつ迅速に行うように設計されています。JEOL JEM 2000FXは、可変圧力モードと高真空モードの両方で動作することができます。顕微鏡のチャンバー内の圧力を変化させることで、電子の入射ビームと試料の相互作用を制御することができ、より良い解像度を得ることができます。さらに、追加の二次中和機能のおかげで、画像処理も改善することができます。JEM 2000FXは、cryo-SEM、回転ディスク、準備段階など、幅広い試料実装オプションも提供しています。これらの特徴により、生物標本や微細構造などの様々なサンプルの効率的なイメージングと分析が可能になります。最後に、顕微鏡には3D断層撮影、スペクトル分析、粒子サイズ測定などの高度なソフトウェアオプションが付属しており、研究者は作業サンプルを迅速かつ正確に分析して処理することができます。結論として、JEOL JEM 2000FXは、ナノスケール試料の高度なイメージングおよび分析用に設計された最先端の走査型電子顕微鏡です。これは、高解像度の画像を生成することができ、標本実装とソフトウェア分析のための複数のオプションを提供し、ナノスケール研究の分野で誰にとっても理想的な選択肢となります。