中古 JEOL JEM 2000FX #9265721 を販売中
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ID: 9265721
Transmission Electron Microscope (TEM)
Low magnifications: < 20,000x
Diffraction contrast imaging
With small objective aperture
Electron diffraction patterns
Dynamic range patterns
Accelerating voltage: 80 - 200 kV
Magnification: 1000000x
Lab 6 source:
Point image: 0.28 nm
Lattice image: 1.4 nm
Eucentric side entry goniometer stage
Specimen size: 3 mm
Tilt angle: Up to 25° (Double tilt holder)
Specimen holders:
Single tilt
GATAN Double tilt: +25°C.
JEOL JEM 2000FXは、高分解能イメージングと解析機能を提供するために設計された電界放射型電子顕微鏡(SEM)です。JEM 2000FXの強力な性能により、最も人気のある信頼性の高い走査型電子顕微鏡の1つになりました。JEOL JEM 2000FXは、倍率が最大120万倍、1000X倍率が有効であることを特徴としており、非常に高いレベルのディテールで試料を見ることができます。この顕微鏡には、電子銃の位置と客観的な絞りを素早く正確に調整できる自動スティグメータ装置も付属しています。JEM 2000FXには、後方散乱電子イメージングおよび分光法、ソース選択された二次電子イメージング、環状暗視野イメージング、X線分光法など、さまざまなイメージングおよび分析機能が搭載されています。この顕微鏡にはエネルギーフィルタリングシステムが装備されており、高エネルギー電子が通過することを同時に可能にしながら、入ってくる電子を効果的に拒絶するために使用することができます。これにより、化学マッピングや元素マッピング、位相解析、ひずみ測定、分光法など、さまざまな分析を行うことができます。また、JEOL JEM 2000FXには、電界放射銃と2つのマルチアパーチャーコンデンサーレンズを含む高度な電子光学ユニットも装備しています。この機械は色収差と電気歪みを大幅に低減し、優れた解像度とコントラストを持つ画像を提供します。この顕微鏡はまた、2つの異なる銃の位置を使用して2つの異なる領域の同時画像と分析を可能にする2電子銃ツールを含んでいます。JEM 2000FXは、タッチスクリーン制御とデータ処理機能を備えた完全に統合されたユーザーインターフェイスで、操作も簡単です。これにより、ユーザーはSEMイメージを迅速かつ効率的に取得し、データを分析し、将来のアプリケーション用に処理することが簡単になります。この顕微鏡には、サンプルマウントの自動アセットが付属しており、試験片の読み込みと分析を迅速かつ簡単に行うことができます。全体として、JEOL JEM 2000FXは、ユーザーに最高レベルのイメージングと幅広い分析機能を提供するために設計された強力で信頼性の高いツールです。この高度な走査型電子顕微鏡は、最高レベルの解像度と精度を求める研究者に最適です。
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