中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #293657430 を販売中
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ID: 293657430
ヴィンテージ: 2006
Wafer prober
MVME Rack
No VIP
No 147CON
No OCR
MC01
I/F
316
PST-OPT
PST-I/F
No PST-STD
No SIO
GP-IB
Robot
X and Y Axis arm motor
No X and Y Axis motor driver
No OCR
No laser aligner
Chuck aligner
Manual plate
No C/S Cover
Hot chuck
ASU
X, Y and Z Axis motor
No X, Y and Z Axis driver
Bridge
No tester head adapter
Compressor
Circulator
No temperature controller
Monitor
Hinge
No chiller
Cover
Power supply
2006 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLmは、先進的な半導体試験のプローバです。このシステムは、信頼性と性能のための半導体デバイスとコンポーネントのプロービングとテストに使用されます。TEL P12XLMは、半導体デバイスとコンポーネントの高度なテストのための革新的なプロバーシステムです。小型パッケージから大型集積回路まで、あらゆるタイプの半導体デバイスの高速プロービングおよびテストに対応できます。TOKYO ELECTRON P 12 XLMの設計は、マルチリワークステーションプロセスに基づいており、さまざまなテストプロトコルとサンプリングサイクルで高度なテスト機能を提供します。TEL/TOKYO ELECTRON P12XLMは、高速サーボモータを搭載し、デバイスのピン上のすべてのプローブを正確かつ迅速に位置決めします。また、デバイスのPADをスキャンするための5軸ムーブメントを備えた精密プロービングアームも備えています。このプローバは、大規模なデータ処理能力を備えており、短いサイクルタイムテストとテストプロセスの微調整を可能にします。また、東京電子P-12XLmは高速データ転送機能を備えており、回路の高速デジタルテストが可能です。TOKYO ELECTRON P-12 XLMは、システムのセットアップと制御を簡素化する複数のユーザーインターフェースを備えています。これは、専用のコントローラプログラムを使用して直接入力するか、またはいくつかの組み込みソフトウェアスイートから選択することによって行うことができます。さらに、プローバには過電圧および過電流保護センサが組み込まれており、テスト中のデバイスの損傷を防ぎます。TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XLMは、半導体のプロービングとテストにおいて優れた性能と精度を提供する効率的な試験ツールです。これは、あらゆる産業用半導体試験アプリケーションに最適なソリューションであり、ベアボードとプリロードされたフォーマットの両方で利用できます。その柔軟性により、半導体の製造および修理に適しています。
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