中古 TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #9161697 を販売中

TEL P-12XLは、精密ウェハレベル解析用に設計されたプローバです。シリコンウェーハや半導体デバイスの電気的特性と物理的特性の両方を測定できるマルチパラメータシステムです。このP-12XLは、最先端のウェーハプロービング機能を備えているため、生産および研究開発アプリケーションの両方に最適です。その革新的なデザインは、高速スキャンメカニズム、特許取得済みのウェハレベルの光学電源、最適化されたパワーカップリング、および高精度のモーションコントロールシステムを備えています。このP-12XLにはさまざまな入力と出力が装備されており、自動ウェーハアライメント、複数のin-situ電気解析チャネル、統合されたコンピューター制御など、包括的な機能を提供します。ウェーハの自動アライメントにより、正確で均一なウェーハ接触が保証されます。一方、複数のin-situ電気解析チャネルにより、1つのプローブで複数の測定が可能になります。さらに、統合されたコンピュータ制御機能により、プログラム可能な距離からすべてのデータ分析タスクを管理することができます。P-12XLはまた、高圧および/または高温条件下での動作をサポートし、包括的な環境制御が可能です。オンボードの酸素、温度、湿度センサーを搭載しており、環境の変化に応じてデバイス特性を詳細に分析することができます。これにより、試験環境にかかわらず、P-12XLを利用した測定が正確かつ信頼性の高い状態を維持できます。このP-12XLは、シングルウェーハの値の測定だけでなく、ダイワーク、I-Vカーブの測定、ループゲイン、マイクロ波特性などの精密なプロセスも提供するように設定できます。また、P-12XLのモジュラー設計により、幅広い用途に対応できます。他の機器をモジュラーシステムに統合することで、複雑なウエハレベルの解析プロセスに使用できます。さらに、データ分析や可視化に関しては、P-12XLが非常に進んでいます。外部データ収集システムの接続をサポートし、ウェハテスト結果をリアルタイムにキャプチャできます。さらに、専用のデータビジュアライゼーションソフトウェアにより、複数の測定データを迅速かつ正確に分析し、デバイスのパフォーマンスを評価することができます。P-12XLが提供するさまざまな機能を活用することで、エンジニアはウェハレベルの測定から最高レベルの精度と信頼性を得ることができます。