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FEI DA300 #293670288

FEI

DA300

Defect analyzer, 12" NG Scanning Electron Microscope column (SEM) Detectors: ETD, TLD, CDEM Sidewind
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FEI DA300 #9266820

FEI

DA300

Dual beam Scanning Electron Microscope (SEM), 12" Upgraded to SEM and FIB columns Electron NG SEM SF
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FEI DA300 #9259263

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DA300

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FEI DA300 #9259261

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DA300

Defect analyzer, 12" ADR / ADX and Defect explorer function Sirion SEM column Side winder ion column
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FEI DA300 #9257394

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DA300

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