中古 SHIBAURA AutoEL-IV #293616278 を販売中

SHIBAURA AutoEL-IVは、半導体業界の厳しい要件を満たすように設計された高度なウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、さまざまなウエハ基板の包括的な分析とテストを可能にする、完全な技術とプロセスで構成されています。AutoEL-IVの中核には、統合されたCCDイメージングユニットがあります。これは、独自の画像キャプチャ、処理、分析ソフトウェアのユニークな組み合わせを利用して、欠陥、粒子数、均一度測定に関連するデータを収集し、分析します。高倍率レンズシステムと高度な解析アルゴリズムにより、このマシンはすべてのウェーハ表面を完全にカバーするだけでなく、手動および自動画像処理機能を提供します。SHIBAURA AutoEL-IVは、イメージング機能に加えて、高度な計測スイートも提供しています。光学センサやメカニカルベースの各種センサ、マイクロスケールおよびナノスケールでの物理的特性を正確に検出するための非接触測定装置などがあります。高速イメージング装置と組み合わせることで、幅広い用途において極めて精密なデータ収集と解析が可能になります。AutoEL-IVはまた、ウェーハのスクライブと薄型化のためのプラットフォームを提供します。これは、レーザー、熱、機械的切除技術を組み合わせてサイコロや薄いウエハに使用できる特殊な装置によって実現されます。これにより、ウェーハが必要なすべての仕様を満たすように準備され、ツールのさまざまな計測およびイメージング機器によって正確に分析することができます。最後に、SHIBAURA AutoEL-IVは、任意のアプリケーションのニーズに合わせて高度に構成可能に設計されています。モジュラー設計により、ユーザーは簡単に資産をカスタマイズして、自動視力検査、膜厚と平坦度の測定、欠陥分類、粒度分析などのさまざまな追加技術を組み込むことができます。オールインオールのAutoEL-IVは、半導体ウェーハの分析とテストのための非常に強力で包括的なプラットフォームをユーザーに提供する高性能ウェーハ試験および計測モデルです。高度な統合イメージングおよび計測システムと、さまざまな追加のカスタマイズオプションを組み合わせることで、半導体製造事業の成功を確実にするために必要な正確なデータをユーザーに提供するように設計されています。