中古品 SHIBAURA (ウェハ検査・計測) を販売中

半導体業界で有名なシバウラは、最先端のウェハテストと計測機器を提供しています。これらのシステムは、半導体製造における試験プロセスの精度、信頼性、効率を確保するために設計されています。注目すべきウェーハテストユニットの1つはAutoEL- Ⅲです。ウェーハの高速かつ精密な電気試験を可能にし、欠陥の効率的な検出と半導体デバイスの特性評価を可能にします。ハイスループット、マルチサイトテスト、既存の生産ラインへの柔軟な統合などの高度な機能を提供します。もう1つの高度なシステムは、前任者の能力を基にしたAutoEL-IVです。さらに、試験精度の向上、接触抵抗の低減、測定安定性の向上により、ウェーハの試験効率を向上させます。AutoEL-IVは、低ノイズプロービング、高い測定速度、包括的なデータ分析機能などの高度な機能を提供します。計測フロントでは、薄膜の厚さや粗さを正確に測定できるMC150-S-11-UOSシステムを提供しています。このシステムは、半導体製造プロセスの品質管理に不可欠な、高速かつ正確な測定結果を提供することに優れています。全体として、SHIBAURAのウェーハテストおよび計測機械は、欠陥検出、品質管理、特性評価のための信頼性の高いソリューションを半導体メーカーに提供します。これらのツールは、高いスループット、精度の向上、効率の向上、包括的なデータ分析などの利点を提供します。SHIBAURAは、業界で実績のある技術により、AutoEL- Ⅲ、 AutoEL-IVなどの資産をMC150-S-11-UOS、半導体製造プロセスの合理化と製品品質の向上に貢献しています。