中古 LEITZ SP #109670 を販売中

LEITZ SP Wafer Testing and Metrology Equipmentは、ウェーハ業界でウェーハ表面および電気パラメータを検査するために使用される高度な計測ツールです。このシステムは、最も正確で正確なウェーハテストと計測結果を提供し、さまざまなサイズと厚さのウェーハをテストすることができます。SPは、インタラクティブタッチスクリーンインターフェイスを内蔵した自動テストおよび計測ユニットです。モーションコントロールマシンはレーザーとリニアステージを駆動し、ウェーハ表面とデバイスパラメータを正確に測定できます。このツールは、表面トポグラフィや電気特性などの表面パラメータを迅速かつ正確に測定できます。LEITZ SPは、ハイエンドのsCMOSカメラを搭載した高速イメージング顕微鏡と、ウェーハ表面の詳細な画像をキャプチャする光源を備えています。最大2つのウェーハを一度に測定でき、最大900mm/sの速度で測定できます。また、ウェーハのプロファイルを0。01 µm以内に正確に測定できるマルチポイントビームプロファイラを搭載しています。また、抵抗、静電容量、導電率などの電気特性を測定できる光ディテクタアレイも搭載しています。SPには欠陥検出モデルも含まれており、ウェーハの欠陥を自動検出することができます。この機器は、高速かつ効率的なデータ処理機能を提供するソフトウェアスイートによってサポートされています。このソフトウェアは、構成、分析、およびレポートを設定するための強力なグラフィカルユーザーインターフェイスをユーザーに提供します。要約すると、LEITZ SP Wafer Testing and Metrology Systemは、ウェーハ業界のニーズを満たすように設計された革新的なツールです。ウェーハ表面パラメータと電気特性の高精度、高精度、自動化された測定を提供します。このユニットは、高速イメージング顕微鏡と欠陥検出ツールを備えた信頼性の高い効率的なモーションコントロールマシンによって駆動され、高速かつ効率的なデータ処理のためのソフトウェアスイートによってサポートされています。SPは、ウェーハ製造および研究所がウェーハ試験の精度と精度を向上させるのに役立ちます。