中古品 LEITZ (ウェハ検査・計測) を販売中

LEITZは、半導体業界で広く使用されているウェーハ試験および計測機器のリーディングメーカーです。これらの製品には、薄膜特性評価のための精密な測定機能を提供するAdvanced Spectroscopic Ellipsometers （ASE）などのアナログ製品が含まれています。これらのシステムは、高速、非破壊試験、膜厚、屈折率、面粗さの正確な特性評価などの利点を提供します。LEITZのウェハテストシステムとして人気のあるのがLIS （Leitz Integrated System）です。LISシステムは、包括的なウェハ検査と特性評価を可能にし、半導体デバイスの高品質と信頼性を確保します。計測用に、LEITZはMPV-SP（多目的反射計）を提供しています。このシステムは、膜厚、屈折率、臨界寸法に対して迅速かつ正確な測定機能を提供します。MPV-SPは、一般的に半導体製造のプロセス制御と最適化に使用されます。また、SP（分光エリプソメータ）シリーズも提供しており、膜厚や光学定数の高精度測定機能を提供しています。これらのユニットは、さまざまなウェーハ製造プロセスの厳しい要件を満たすように設計されています。全体として、LEITZウェーハ試験および計測機械は、高度な技術、正確な測定、信頼性の高い性能で知られており、半導体メーカーが歩留まりの向上、プロセス制御の改善、および業界の増加する品質基準を満たすことを支援します。