中古 KLA / TENCOR / THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B #9399074 を販売中

KLA / TENCOR / THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B
ID: 9399074
ウェーハサイズ: 8"
Film thickness measurement system, 8".
KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600Bは、半導体ウェーハおよびデバイスのインライン計測用に設計された先進的なウェーハ試験および計測機器です。非接触分光光度3D解析とインライン計測を組み合わせた統合システムで、業界トップクラスの測定精度、高スループット、信頼性を実現します。KLA OPTIPROBE 2600Bは、KLA独自のマイクロ分光技術を基にしており、様々な角度、深さ、角度での測定が可能です。これにより、結果の最高精度と再現性、ウエハナビゲーションと画像操作機能の強化が保証されます。TENCOR OPTIPROBE 2600Bの革新的な3Dマッピング機能は、ウェーハのプロファイルをナノメートルレベルの精度でマッピングし、3D形状、密度、エッチング結果を正確に定量化する3次元情報を提供します。このユニットはまた、デバイスや構造の体積性能を決定するのに便利なマルチアングル測定にも対応しています。THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600Bは、反射分光法、デジタル干渉法、スキャンおよび非線形分光法、蛍光分光法など、さまざまな計測技術もサポートしています。また、自動欠陥検出と分類、カスタムのウェーハ認識、多波長メトロロジー、X線放射線分析など、高度な欠陥検出と分類機能を提供します。OPTIPROBE 2600Bのもう1つの重要な特徴は、データ分析機能、プログラム可能なワークフロー、セキュアなネットワーキングオプションなど、高度な運用ソフトウェアです。このマシンはまた、広範なレポートオプションとデータエクスポートオプションを提供しているため、ユーザーは迅速かつ効率的に結果にアクセスできます。全体として、KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600Bは、業界をリードする精度、速度、信頼性を提供する最先端のウェーハ試験および計測ツールであり、半導体業界にとって非常に貴重なツールです。ナノメートルレベルの精度でウェーハのプロファイルをマッピングする機能と、信頼性の高い欠陥検出および分類機能により、KLA OPTIPROBE 2600Bは、迅速で正確で信頼性の高いウェーハ試験および計測に最適なソリューションです。
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