中古 KLA / TENCOR / THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B #9364393 を販売中

ID: 9364393
ヴィンテージ: 1995
Film thickness measurement system 1995 vintage.
KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600Bは、半導体デバイス製造の専門家のために設計された、高性能、自動ウェーハ試験および計測機器です。精密光学、高度なアルゴリズム、自動化されたモーションコントロールを統合し、半導体ウェーハのライン間隔、フィーチャーサイズ、ライン端の粗さなどの重要な回路特性を測定するための最高レベルの精度を確保します。KLA OPTIPROBE 2600Bは、最新のスキャントンネリング顕微鏡(STM)技術を活用した高精度測定の需要の高まりに対応するよう設計されています。TENCOR OPTIPROBE 2600Bは、ルーチンウェーハテストと計測タスクを管理するために、さまざまな自動機能を使用します。標準のCMOSウェーハを10cm (4インチ)までスキャンし、正確な地形データをキャプチャすることができ、機能のターンオフ規則を正確に判断することができます。また、PCA (Principal Component Analysis)などの高度なアルゴリズムもサポートしており、さまざまな特徴や特性を正確に特定して定量化することができます。このユニットには統合された光学顕微鏡も含まれており、集積回路の個々の層の定量的および非破壊的な測定を可能にします。OPTIPROBE 2600Bは、モーションコントロールの最新の進歩を組み込み、非常に高速なスキャンとテスト機能と幅広い測定構成を提供します。高速スキャン技術と高度な光学技術を組み合わせ、精密な分解能と最小限のドリフトを提供します。機械は自動的にビームを整列させ、デバイスの動作の微妙な変化と温度の変化を検出し、高温試験環境で使用することができます。THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600Bは、高性能な試験および計測機能に加えて、さまざまなユーザーフレンドリーな機能を提供します。これは、ユーザーが簡単に仕様を入力し、データを検査することができ、大きなタッチスクリーンインターフェイスが装備されています。直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスにより、オペレータは迅速にテストを開始、カスタマイズ、実施できます。また、保護エンクロージャ、緊急停止ボタン、可聴アラームなど、さまざまな安全機能が組み込まれており、セキュリティの余分な層を提供します。KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600Bは、ウェーハ試験および計測において優れた精度と安全性を求める半導体デバイス製造の専門家にとって理想的なソリューションです。KLA OPTIPROBE 2600Bは、先進的な光学、自動モーションコントロール、幅広い測定機能を備え、最高品質の半導体デバイスを確保するための貴重なツールです。
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