中古 KLA / TENCOR / THERMA-WAVE OPTIPROBE 2600B #9220003 を販売中

KLA OptiProbe™ 2600B Wafer Testing and Metrology Equipmentは、高度なウェハ特性評価と製造検証のための最先端のシステムです。表面トポグラフィ、オーバーレイ、品質メトリクスを測定するために設計されたOptiProbe™ 2600Bは、強力な光学、モーションコントロール、および熱技術を組み合わせて、効率的な製造プロセスのための包括的なプラットフォームを作成します。OptiProbe™ 2600Bは、コンテキストに敏感なイメージング機能を備えた2D光学プロファイル測定機能を提供します。直感的なグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）とタッチスクリーンインターフェイスを使用して、ユーザーはさまざまなタスクのユニットを素早くセットアップし、計測結果を表示できます。OptiProbe™ 2600Bは、高度なオン軸光学を活用して、リアルタイムで迅速に測定値をキャプチャし、より高速なウェーハテストを可能にします。さらに、特許取得済みのTENCOR熱測定技術を搭載しており、平面度、表面粗さ、接触角などの地形指標を正確に評価できます。特に、OptiProbe™ 2600BはTHERMA-WAVEの有名なUnified Overlay™機能を統合し、サーマルドリフトの影響を軽減しながら包括的なオーバーレイ精度と再現性の測定を提供します。また、先進的な欠陥検査やダイ・ツー・ダイCD測定など、最先端の計測プラットフォームやプロセスにも対応しています。その高度な機能を考慮すると、OptiProbe™ 2600Bにより、製造メーカーは、ダウンタイムや追加コストをほとんど抑えずに、ウェーハテストおよび製造プロセスの有効性を設計および監視することが可能になります。要約すると、KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OptiProbe™ 2600B Wafer Testing and Metrology Toolは、光学、モーションコントロール、熱技術を組み合わせて、正確なウェハ特性評価と製造検証を効率的かつ費用対効果の高い方法で行う先進的かつ包括的なプラットフォームです。直感的なGUIとタッチスクリーンインターフェースから強力なUnified Overlay™機能まで、OptiProbe™ 2600Bはウェーハテストと製造プロセスを最大限に活用したいメーカーにとって理想的なソリューションです。