中古 KLA / TENCOR / THERMA-WAVE Optiprobe 2600 #9407880 を販売中

KLA / TENCOR / THERMA-WAVE Optiprobe 2600
ID: 9407880
Film thickness measurement system.
KLA/TENCOR/THERMA-WAVE Optiprobe 2600は最先端のウェーハ試験および計測システムで、エンジニアはシリコンウェーハ上の特徴を迅速かつ正確に測定および分析し、精度と再現性を向上させます。KLA Optiprobe 2600は、堅牢なハードウェア、優れた光学系、高度なアルゴリズムを備えており、ウェハテストにおいて比類のないレベルの精度と再現性を提供します。TENCOR Optiprobe 2600は、高度な光学顕微鏡を採用し、シリコンウェーハ上の特徴の画像を取得することができます。このツールは、ウェーハ表面のフィーチャーの正確な位置とサイズを測定するために使用されます。Optiprobe 2600はまた、特許取得済みのマルチトラックプロファイリング技術を使用しており、オペレータは最高の精度で任意の寸法と深さを迅速に識別および分析できます。また、ウェーハの高さ、角度、表面状態を正確に測定することができます。THERMA-WAVE Optiprobe 2600には、ユーザーがウェーハテストプロセスを自動化するためのいくつかの高度なコントローラが付属しています。これらのコントローラは、ユーザーが単一のウェーハ上で複数のデータポイントを収集し、この情報をデータベースに保存できるようにします。これにより、異なるウェーハの結果を比較し、テストプロセスを最適化することができます。KLA/TENCOR/THERMA-WAVE Optiprobe 2600はまた、性能パラメータが維持されていることを確認するために、実験の正確な監視を容易にします。データ分析のために、KLA Optiprobe 2600には、複数のウェーハからのデータを相関させ、さまざまな特性にマッピングするプロセスを自動化するグラフィカルユーザーインターフェイスが装備されています。これにより、複数のレイアウトでウェーハを比較することが容易になります。ユーザーインターフェイスには高度なアルゴリズムが装備されており、オペレータはウェーハに欠陥や不規則性が存在することを特徴とする正確なパターンを分析することができます。TENCOR Optiprobe 2600は、製造プロセスにおけるウェーハテストと計測のミッションクリティカルなパフォーマンスとスループットを最大化するように特別に設計されています。これにより、半導体メーカーの正確な要件を満たすために、信頼性と費用対効果が高くなります。
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