中古 KLA / TENCOR / THERMA-WAVE Optiprobe 2600 #293764353 を販売中

KLA/TENCOR/THERMA-WAVE Optiprobe 2600は、半導体材料の欠陥を迅速に特定および定量化する最先端のウェーハ試験および計測機器です。シリコンウェーハの測定データをスキャンして分析するさまざまな技術を使用しており、製造メーカーが生産欠陥を特定して低減するのに役立ちます。このシステムの主な技術は、ウェーハから放射される赤外線を利用して、ウェーハ表面を非常に高解像度で包括的に分析する赤外線サーモグラフィーです。この方法により、KLA Optiprobe 2600はウェーハの表面欠陥などの微妙な異常を検出することができます。TENCOR Optiprobe 2600ユニットは、光学および電気プロービングなどの赤外線サーモグラフィーに加えて、多数の無料技術を利用して、サブサーフェス欠陥を検出することもできます。THERMA-WAVE Optiprobe 2600の測定値は、機械の高度な画像取得ソフトウェアに収集されます。このソフトウェアは、データを分析し、取得した情報を非常に詳細なレポートにパッケージ化します。Optiprobe 2600は、2インチから12インチまでの広範囲のサイズのウェーハをテストすることができます。これは、外部ハードウェアを必要とせず、ユーザーフレンドリーなインターフェイスを備えた完全にスタンドアロンツールです。KLA/TENCOR/THERMA-WAVE Optiprobe 2600には、自動焦点と周波数変調、調整可能な利得設定、および光ミスアライメント補正など、検査を簡単かつ正確に行う多数の機能が含まれています。さらに、KLA Optiprobe 2600は調整可能なテストプロトコルを提供しているため、ユーザーはテスト要件をカスタマイズできます。このアセットはまた、ユーザーにモデル診断を提供し、ユーザーは機器の性能を確認し、必要に応じてシステムを校正することができます。結論として、TENCOR Optiprobe 2600は、正確で効率的なウェーハテストと計測を可能にするように設計された強力で柔軟なユニットです。THERMA-WAVE Optiprobe 2600は、赤外線サーモグラフィー、光学および電気表面プロービング、豊富な機能とオプションなどの高度な技術により、あらゆる半導体材料の欠陥を検出する効果的で正確な手段をユーザーに提供します。