中古 KLA / TENCOR / THERMA-WAVE OP 2600 #293649607 を販売中

KLA/TENCOR/THERMA-WAVE OP 2600は、自動車およびデバイスの迅速な認定試験を可能にするウェハテストおよび計測機器です。さまざまな半導体ウェーハの欠陥を検出して特定し、それらを詳細に測定および分析するように設計されています。このシステムは、光学レンズアレイ、デュアルフーリエ解析、およびデジタルイメージ相関技術で構成されており、ナノスケールレベルでのウェーハの迅速かつ正確な検査を可能にします。KLA OP 2600の光学レンズアレイは、厚さ0。5〜20マイクロメートルの薄い薄層の作業と測定に最適化されています。これにより、最も小さな欠陥でも優れた精度で検出されます。このユニットのデュアルフーリエ解析とデジタルイメージ相関技術により、リアルタイムとオフラインモードの両方で測定を行うことができます。これにより、ユーザーはウェーハのパフォーマンスと品質について迅速かつ信頼性の高い意思決定を行うことができます。また、このマシンの高度なイメージング機能により、ユーザーはデバイス全体の適合性を正確に評価することができます。これは、測定結果を顧客の仕様と比較することによって行われます。TENCOR OP 2600は、認証/測定の自動設定も備えており、わずか5分で特定のテストを設定できます。この自動テストプロセスにより、スループットの向上、サイクルタイムの短縮、プロセスの改善につながります。また、独自のウェーハスループット計算アルゴリズムを備えており、ウェーハサイクル時間、プリントカウント、基板の自動推定が可能です。これは、適切な生産プロセスを確保し、ミスによる廃棄物を削減するのに役立ちます。THERMA-WAVE OP 2600には自動欠陥識別機能と分類機能も搭載されており、初期欠陥調査にかかる時間を短縮し、誤検出を最小限に抑えることができます。また、目視検査を高速化し、ウェーハをより正確に診断するのにも役立ちます。全体として、OP 2600は強力なウェーハテストおよび計測資産であり、薄層デバイスの高解像度、高精度の測定および分析を提供します。光学レンズアレイ、デュアルフーリエ解析、デジタルイメージ相関技術により、高速で信頼性の高い検査と高解像度ディテールの測定が可能です。さらに、自動化されたテスト機能により、スループットを向上させ、サイクルタイムを短縮し、プロセス全体のパフォーマンスを向上させます。