中古 IMS / NANOTECH LVIS-3+ #9248784 を販売中

IMS / NANOTECH LVIS-3+
ID: 9248784
ヴィンテージ: 2012
Visual inspection system 2012 vintage.
IMS/NANOTECH LVIS-3+は、半導体部品の品質管理のために設計された、高精度の自動ウェーハ試験および計測機器です。高度な3Dイメージング技術とさまざまな分析ツールと技術を活用して、ウェーハの電気的および光学的特性を正確に測定します。IMS LVIS-3+は、光学顕微鏡、電気パラメータ測定、断面イメージングなど、高度な光学および電気計測技術のユニークな組み合わせを提供します。また、ウェーハエッジの特性を検査して測定することができ、欠陥、汚染などの問題を正確に特定することができます。高度に自動化されたシステムは、迅速なテストと測定プロセスで大量生産をサポートします。完全に自動化されたルーチンと合理化されたワークフローにより、ユーザーはテストと測定を迅速かつ効率的に設定できます。ナノメートルレベルまでの分解能と精度、最大4,500回/秒の測定が可能で、ウェハレベルのイメージングや3D構造のイメージングなどの高度な計測試験に適しています。また、高温・低温試験にも対応しており、高精度の医療部品から、より一般的な半導体製品まで、幅広い用途に最適です。自動化されたソフトウェアは、直感的なデータ分析機能と、結果を簡単に評価できる包括的なレポートジェネレータもユーザーに提供します。このソフトウェアはまた、他の産業用具と容易に統合するための多目的な輸出オプションを提供し、製品を迅速かつ正確に検査する必要があるさまざまな業界のお客様に最適です。最終的に、機械はIMSの世界クラスのテクニカルサポートおよび維持サービスによって支えられ、最高レベルの安全および信頼性を保証します。カスタマーソリューションエキスパートのグローバルネットワークは、24時間年中無休でサポートとカスタマーケアを提供しています。全体として、NANOTECH LVIS-3+は、生産ラインに簡単に統合することができ、NANOTECHの優れた設計とカスタマーサポートに裏打ちされた、高度に自動化されたウェーハテストおよび計測ツールをお探しのお客様に最適です。
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