中古 NIKON NSR 4425i #9351452 を販売中

NIKON NSR 4425iウェーハステッパーは、高度なウェーハ検査作業に最適な高性能測定ツールです。20mm×20mmの視野で0。5 μ mまでの解像度でパターンを測定できます。このステッパーは、半導体製造設備の量産および検査用に設計されています。1時間あたり最大900WPHの高スループットと効率的なコンポーネントのレイアウトを備えています。NIKON NSR-4425Iウェーハステッパーは、優れた測定精度と再現性を提供し、正確で一貫した検査結果を保証します。これは、Nikons独自のALIS （Advanced Light Interferometric Equipment）技術によって実現されており、ナノメートルレベルの軌道制御と同時に自動6度の自由アライメントが可能です。パターン測定サイクル時間を大幅に短縮します。さらに、精密AF制御（Advanced Focus Control）ユニットは、オートフォーカス機能を最適化し、オートフォーカス実行時間をさらに短縮し、高いレベルの測定精度を保証します。NSR 4425 I Wafer Stepperは、50Xから400Xまでの可変倍率範囲を提供する高性能イメージングマシンも備えています。このツールは、測定プロセス中に遅延なしにリアルタイムで画像を生成することができます。ステッパーは、最大転送速度16枚/秒の高速画像キャプチャも可能です。さらに、暗いフィールド、背面照明、斜め照明、超解像半円照明などの高度な照明オプションも利用できます。NSR 4425iウェーハステッパーには、重要寸法や表面平坦度の測定などの高度な計測機能も搭載されています。また、静電成形パターン、金型、不透明な薄線などを高精度で測定することができます。このステッパーは、パターンマッチングアルゴリズムを内蔵した包括的なパターン認識ライブラリも提供します。セットアップとパラメータ最適化のための視覚的なガイダンスを提供するセットアップウィンドウがあります。全体として、NIKON NSR 4425 I Wafer Stepperは、ウェーハ検査作業に最適な信頼性の高い高性能測定ツールです。優れた測定精度、高スループット、高度なイメージングおよび計測機能を提供します。このステッパーは、ウェハ検査プロセスで優れた性能と精度を必要とする半導体製造設備に最適です。