中古 ASML XT 760F #9237243 を販売中
URL がコピーされました!
ID: 9237243
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2006
DUV Scanner, 12"
Locking kit
TAMIS (EMTA):
Z7 Offset: ±4.0 nm (-5.96)
Z8 Offset: ±4.0 nm (-1.11)
Z7 Tilt in X: ±2.0 nm/cm (-0.04)
Z9 Offset: ±4.0 nm (0.48)
SAMOS (EMCA):
SAMOS: ≤3% (1.74)
SLIT Uniformity (LUSU):
- / NA / S.In / S.Out / Control spec / Down spec / Result
Annular (M-Action) / 0.7 / 0.55 / 0.85 / 1.50% / 3.00% / 0.31
Conventional / 0.65 / 0 / 0.75 / 1.50% / 3.00% / 0.26
Conventional / 0.7 / 0 / 0.6 / 1.50% / 3.00% / 0.28
Model result parameter:
Best focus: ±0.015 (0.002)
Image height C1 (um): 0 ±0.015 (0.002)
Image height C2 (um): 0 ±0.015
Image height different (um): 0 ±0.015
Image tilt ry C1 (urad): 0 ±0.5 (-0.279)
Image tilt ry C2 (urad): 0 ±0.5
Image tiltry different (urad): 0 ±0.5
Intrafield:
Focus range chuck 1 Before: <120 nm (91.6)
Focus range chuck 2 Before: <120 nm
Focus range chuck 1 After: <120 nm (89)
Focus range chuck 2 After: <120 nm
Focus range C1 different (nm): 0 +15 (2.6)
Focus range C2 different (nm): 0 +15
Astigmatism range C1 different (nm): 0 ±5 (0.6)
Astigmatism range C2 different (nm): 0 ±5
Result after correction:
IPD Mean (nm): <120 (89)
IPD STDEV (nm): <10
Astigmatism mean (nm): <70 (36)
Astigmatism STDEV (nm): <10
Dose accuracy and repeatability performance (ODAR):
Dose accuracy: <2.0 (max) (1.416)
Dose repeatability: <0.5 (0.057)
CARL ZEISS SMT Lens
Charcoal filter
External interface module
Bottom module
Reticle stage
Covering panels frame parts
Covering panels frame MCAB
Covering panels
RSRC Cabinet
MCWC Cabinet
MDC Cabinet
LCWC Cabinet
Exhaust cabinet
Machine parts clean folder
Side channel blower
(6) Machine parts
Double stage
CYMER Laser not included.
ASML XT 760Fは、集積回路の製造に使用されるリソグラフィーアプリケーション用に設計されたウェハステッピングツールです。従来の光学ウェーハステッパーと比較して、高解像度で均一な画像処理が可能です。ASML XT:760Fには、レンズとミラーの位置決めのための非常に正確で滑らかな動きを生成することができる独自の運動装置が装備されています。このモーションシステムは、横段のドリフト値を最小限に抑え、安定した再現可能なイメージングプロセスを実現するために、高周波で動作するように設計されています。また、2軸のPololuロボットアクチュエータを搭載しています。XT 760 Fは、画像処理に高性能のデジタルガルバノメートルスキャナを使用しています。このスキャナは、X、 Y、 Z軸のスキャナーミラーの高精度な動きを確保しながら、安定したイメージングプロセスを提供するように設計されています。このスキャナには、高解像度イメージングを可能にするビームシェーピングモジュールも装備されています。付属のソフトウェアモジュールとハードウェア機能により、スキャナの簡単かつ正確な制御とアライメントが可能です。XT:760Fは、リソグラフィ処理が完了した後にウェーハの画像を撮影するために設計された高解像度CCDカメラを搭載し、ICの表面特性を測定しています。また、ノイズを低減し、画像コントラストを高めるように設計された高度な画像処理アルゴリズムを搭載しています。さらに、カメラユニットは、安定した画像環境を提供する低温ノイズの画像をキャプチャするように設計されています。XT 760Fは、信頼性と再現性の高いイメージングを可能にする高度に自動化されたウェーハステッパーです。これは、ほんの数秒の露光時間で、25nmまでの解像度でイメージングすることができます。このマシンは、ウェーハ上で一貫した画像均一性と、ウェーハ全体での信頼性の高い再現性を実現します。また、高効率で複数のウェーハを同時に撮影できます。これにより、高い精度と精度を維持しながら最大のスループットを実現します。
まだレビューはありません