中古 WANGSHA TECHNOLOGY LEDA-AS M76F #9394064 を販売中

WANGSHA TECHNOLOGY LEDA-AS M76Fは、半導体マニュファクチャリングにおける品質保証試験および測定用に設計された高精度ウェハハンドラです。この洗練されたウエハハンドラは、最大48個のウエハのハンドリングと測定を管理できる強力なオートメーション機能を備えています。精密な多点認識装置により、最大直径8インチまでの幅広いウェーハサイズと向きを検出できます。このシステムはまた、ウェーハの種類やクラスを識別できる強力な光学認識ユニットを利用しています。LEDA-AS M76Fには、高精度測定のための高度なレーザー干渉測定機能も搭載されています。この技術は、最大10ナノメートルの解像度を実現し、ウェーハ表面のサイズ、表面の特徴、角度を正確に測定することができます。これにより、最終製品が高品質の製造基準を満たしていることが保証されます。また、ウェハハンドラには、毎分最大40個のウェハーに対応できる高速ウェハローディングおよびアンロードマシンが搭載されています。WANGSHA TECHNOLOGY LEDA-AS M76Fには、ウェーハ表面の欠陥やバリエーションを検出できる完全に統合されたビジョンアセットも付属しています。このモデルは、人間の目に見えない欠陥や変動を検出し、完成品の最高精度を確保することができます。自動化されたウェーハ処理に加えて、LEDA-AS M76Fは内蔵のスキャナ装置も備えています。このシステムは、材料情報の正確なスキャンに使用でき、ウェーハ表面の詳細な3Dマッピングが含まれます。このユニットは、ウェーハの物理的および電気的特性を測定し、所望の生産パラメータと比較するためにも使用できます。WANGSHA TECHNOLOGY LEDA-AS M76Fは、半導体製造業における高精度の品質管理を確保するための理想的なソリューションです。この堅牢なウエハハンドラは、高い品質基準を容易に保証できる強力な自動化機能を提供しますが、統合されたスキャンおよびビジョンシステムは、表面の最小の変動や欠陥を検出して測定することができます。自動化された機能と精密な光学モニタリングの強力な組み合わせにより、LEDA-AS M76Fは、高精度のウェーハ測定に最適です。