中古 ZEISS Ultra 55 #9194483 を販売中
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販売された
ID: 9194483
Scanning electron microscope (SEM)
High resolution mode: 20nA
Oil free pumping system: XDS10 (220-240V)
Operating system: Windows with keyboard
Control panel USB
US Vers with firmware
Flange kit: 4QBSD, 55 / 55VP / UltraPlus
Airlock programed, 80mm
(3) Multiple single stub holder 4
Multi-purpose sample holder
Faraday cup
USB Dongle
X-Ray / External scan input panel kit
Flat panel TFT color monitor, 19"
Mechanical adapter: BRUKER AXS Detectors
Air compressor with auto drain
THERMOCUBE 400 W, 3 lpm Gear chiller
AVI-400 Extra MP active vibration isolation
Field view: Fibics atlas
EVO Hi-res imaging for FESEM
LCD TFT Monitor: HP ZR2440w
Shuttle / Find EM
AV4 Mod LM-EM Site Lic.
ZEISS Ultra 55は、幅広いサンプルで高解像度の画像や極めて精度の高い測定が可能な走査型電子顕微鏡(SEM)です。ナノメートルレベルの精度で材料を観察、測定、分析できる効果的な実験機器です。Ultra 55は、可変圧力と従来の電子microscopyモードを組み合わせたデジタルイメージングおよび解析装置です。それは表面の充満効果を減らす可変的な圧力モードの大きい区域の標本を観察するのに使用することができます。この装置は、産業用および研究用グレードの半導体ウェーハや、MEMS、バイオセンサー、家電などの他のデバイスのイメージングに適しています。半導体モードと加速電圧と作動距離の自動最適化により、0。7nmの解像度で優れた画質を提供します。このシステムは、世界的に有名なツインレンズ技術を搭載しており、ユーザーはあらゆる方向に高解像度の画像処理を行うことができます。さらに、5段階のエネルギーフィルタにより、信号対ノイズ比を最大化し、フィーチャー寸法を正確に識別および測定できます。ZEISS Ultra 55の柔軟な機能により、材料特性評価に最適です。高解像度のイメージングと正確な測定は、組成、表面地形、欠陥計測など、幅広い材料の特徴を調べるのに適しています。この装置のナノスケール機能は、材料のリソグラフィ性能をベンチマークするのに最適です。インストゥルメントの直感的なユーザーインターフェイスは、あらかじめ定義された関数へのショートカットを提供します。さらに、このユニットは自動的に画像を取得することができ、単一のコマンドで画像のバッチを撮影することができます。Ultra 55のユニークな設計は、分析およびイメージング機能を単一のパッケージに組み合わせることで、材料の効率的かつ正確な特性評価を実現します。この機械は研究および産業市場のために適して、より多くの機能のための他の器械と容易に結合することができます。
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