中古 ZEISS Sigma #9316549 を販売中

ZEISS Sigmaは、高解像度イメージングと解析機能を提供する走査型電子顕微鏡（SEM）です。SEMは、トポロジー、組成、結晶性、微細構造など、ナノからマイクロスケールの材料の物理特性を分析するために使用されます。シグマは、材料の元素組成を識別する機能を提供するインレンズエネルギー分散X線検出器（EDS）を備えています。これにより、サンプルの元素および化学的マッピングが可能となり、その成分材料に関する洞察を提供し、複雑な物理的性質と相関する。ZEISS Sigmaは、1nmまでの高解像度イメージングを提供し、ユーザーは以前は不可能だった詳細を解決することができます。レンズ内電子光学設計により解像度を向上させ、収差を低減し、より多くの電子を試料に集中させることで、より鮮明な画像を得ることができます。SEMは、自動スキャンやオートフォーカスなどの自動機能を提供します。様々な厚みのサンプルを見るときには、電子レンズの調整が必要になります。オートスキャン機能により、設定された時間間隔で複数の画像を自動的にキャプチャすることができ、サンプル検査にかかる時間を短縮し、焦点を画像解釈にシフトさせることができます。さらに、Sigmaは、複数の角度からサンプルを表示するための傾きおよび回転運動機能を提供します。チルト機能は、結晶構造アライメントなどの3次元効果を考慮し、ナノやマイクロスケールのデータを解釈できるため、材料の特性評価に特に役立ちます。ZEISS Sigmaのインターフェースは直感的な操作とカスタマイズ可能な設定で設計されており、シンプルで使いやすいです。さらに、パーソナルコンピュータに顕微鏡を取り付けてデータを保存したり、操作したりすることもできます。これにより、データ共有とアーカイブが簡単かつ効率的になります。全体的に、シグマは優れた高度な走査型電子顕微鏡です。その優れた解像度、自動化された操作、直感的なインターフェイスにより、材料の特性評価と分析に最適なツールです。