中古 ZEISS NVision 40 #293778897 を販売中
URL がコピーされました!
タップしてズーム
ID: 293778897
ヴィンテージ: 2018
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)
Gases: W, Carbon, H2O, SiO2
Nozzle
SEIKO Gas Injection System (GIS)
KLEINDIEK MM3A Micromanipulator, control and feedthrough
Does not include:
Omniprobe
Stack of KLEINDIEK Controllers
2008 vintage.
ZEISS NVision 40は、生体試料の高解像度イメージングを容易かつ迅速に行うために設計された次世代スキャン電子顕微鏡(SEM)です。この画期的な装置は、最大40,000xの強力な倍率範囲と15kV加速電圧で27nmの分解能を備えています。このデバイスの5軸精度測位システムは、サンプルの位置決めを正確に制御し、イメージングに最適化されたアライメントを可能にします。また、ステージマウント型の振動減衰ユニットを搭載し、環境振動による画像ノイズを最小限に抑えます。NVision 40 SEMは自動運転用に設計されており、特定の種類のサンプルを選択して分析することができます。サンプル特性を詳細に分析するために、温度、地形、表面電荷、および表面構造を測定することができます。統合ソフトウェアスイートは、データ管理、画像解析、および高スループットのスクリーニング機能も提供します。さらに、このデバイスは、さらにカスタマイズのために、イメージング制御および操作ハードウェアや最新のイメージングソフトウェアなど、さまざまなオプションのアクセサリを提供しています。このデバイスは、幅広い機能を備えた高感度検出機の利便性を提供し、ユーザーは画像モードをすばやく簡単に切り替えることができます。自動フィルタリングツールが付属しており、関連する画像を識別して精度と柔軟性を高めます。さらに、このアセットは、ユーザーの生産性を向上させるための半自動マルチサンプル実行を提供します。ZEISS NVision 40 SEMの強力なイメージング機能により、材料や生物科学、産業アプリケーションなど、さまざまな研究および産業アプリケーションに最適です。この画期的なモデルは、速度、精度、精度を考慮して設計されており、あらゆる実験室や研究施設に最適です。
まだレビューはありません