中古 ZEISS Gemini #9249507 を販売中

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製造業者
ZEISS
モデル
Gemini
ID: 9249507
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) ORSAY Cobra FIB Column ORSAY MonoGIS Gas injection system In-lens SE In-lens EsB SESI Secondary ion detector Lens BSE detector Charge compensator injection needle SEM Column Operating system: Windows 7 Monitor: 2" x 19" Control panel: Keyboard With Knobset Includes: UPS Pumps Chillers Does not include: EDS WDS EBSD XEI Evactron Combiclean TMC Stacis iX Air table EM Field cancellation system Cage / Frame.
ZEISS Gemini Scanning Electron Microscope (SEM)は、小面積の分析から非常に広い領域のサンプル概要まで、幅広い画像処理用に特別に設計された走査型電子顕微鏡です。これは、金属、プラスチック、有機物質など、さまざまな材料の表面をイメージするために使用できる非常に汎用性の高いツールです。SEMは、標本の物理的および化学的性質を詳細に観察するために使用することができます。Gemini SEMには、詳細な分析のために高解像度で画像を作成する機能もあります。SEMは静電レンズを使用して試料から放出された電子を画像検出器に集中させ、試料表面の画像を生成します。ZEISS Gemini SEMは、画像をユーザーのニーズに合わせてカスタマイズするための幅広いイメージングパラメータを提供します。SEMは、高性能の二次電子(SE)イメージングと後方散乱電子(BSE)イメージングの両方の機能を提供します。SE画像は試料の表面地形を観察するのに適しており、BSE画像は化学コントラスト画像に適しています。Gemini SEMには、より詳細な分析情報をキャプチャする機能もあります。これは、サンプルの元素組成を決定するために使用することができる統合エネルギー分散X線分光法(EDS)を含みます。SEMには、粒子解析や3Dボリュームイメージングなど、さまざまな自動画像取得および解析機能が搭載されています。これらの自動解析機能を使用して、サンプルの微細構造に関する情報を迅速かつ簡単に取得できます。ZEISS Gemini SEMは、イメージングと分析のための信頼性と堅牢なツールです。また、非常にユーザーフレンドリーであり、自動化された機能により、ユーザーは画像やデータを迅速かつ正確にキャプチャできます。これにより、ジェミニは幅広い分析およびイメージングのニーズに最適なツールとなります。
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