中古 ZEISS EVO 50H #82084 を販売中

ZEISS EVO 50H Scanning Electron Microscope （SEM）は、高倍率で小粒子を画像化、測定、分析するための高性能で費用対効果の高いソリューションです。これは、ツインエネルギー分散X線分光計（EDS）を備えており、単一のスキャンで元素組成物を同時に分析することができます。EVO 50Hはまた、広範囲の拡大にわたって最小粒子の粒子サイズと形状を自動的に検出して測定する機能を備えています。ZEISS EVO 50Hは、パフォーマンスの向上に加えて、直感的でプログラマブルなコントロールで使いやすく設計されており、経験豊富なユーザーと初心者のユーザーの両方に適しています。サンプルのセットアップと分析のための直感的なユーザーインターフェイスは、効率的なサンプル分析をサポートするために、多目的およびマルチメディアインタラクションで使用するために最適化されています。EVO 50Hの高度な機能には、大型チャンバーが含まれており、試験片の簡単な操作、プティコグラフィやマッピングなどの高度な画像処理技術、および自動画像処理が可能です。その高度な技術には、高解像度の高精細カメラと電動ステージが含まれており、高速かつ正確な画像取得とサンプルナビゲーションを可能にします。さらに、ZEISS EVO 50Hは、モーター駆動やオートフォーカス機能などの高度なサンプル操作機能も備えており、迅速かつ安全で正確なサンプル移動を可能にします。最後に、EVO 50Hには、データを管理および分析するためのソフトウェアツールが装備されており、ユーザーに高品質の画像と分析用のデータセットを生成する機能を提供します。すべてのデータ分析はZEISS EVO 50H内に保存されるため、外部データの保存が不要になり、効率的なデータ比較が可能になります。さらに、EVO 50Hは様々な後処理オプションと画像解析プログラムを提供し、効率的なサンプル特性評価を可能にします。要約すると、ZEISS EVO 50H Scanning Electron Microscopeは、さまざまな用途に対応する小粒子のイメージング、測定、分析のための高度で信頼性の高い費用対効果の高いツールをユーザーに提供します。その直感的なユーザーインターフェイス、高度なイメージング技術、オートフォーカスおよびサンプル操作機能は、包括的なソフトウェアツールと相まって、経験豊富なユーザーと初心者のユーザーの両方に包括的なSEMソリューションを提供します。