中古 ZEISS EVO 40 #9204591 を販売中

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製造業者
ZEISS
モデル
EVO 40
ID: 9204591
Scanning electron microscope.
ZEISS EVO 40は、優れたイメージング性能と高速なデータ取得を組み合わせた、世界をリードする電界放射走査型電子顕微鏡(FESEM)です。これにより、比類のない精度とディテールでサンプルを素早くスキャン、識別、特性評価することができます。EVO 40は、エネルギー分散型のX線システムにワイヤレスで接続するモジュール式のインカラム式エネルギーフィルターで構築されています。これにより、X線分光法を使用して、サンプル内の元素分布を正確に識別することができます。FESEMの広い視野は、理論的にはサンプル全体を1ショットでキャプチャすることを可能にし、より詳細にズームする前にサンプルの詳細な画像をすばやくユーザーに提供します。ZEISS EVO 40は、特許取得済みの可変圧力走査型電子顕微鏡(VP-SEM)技術を採用しており、チャンバー内部の中央真空圧を最大5 µPaまで低減し、非伝導材料の最高分解能イメージングを可能にします。これにより、電子ビーム径がわずか1。2nmに減少します。これは、超高解像度のイメージングと解析における画期的なものです。EVO 40はまた、特許取得済みのAccVoltエネルギーフィルターを使用してリアルタイムの二次電子イメージングを行うことができ、サンプルの表面の微小特徴のデジタル画像をユーザーに提供します。AccVoltフィルタを使用すると、ワンクリックで画像を自動的にキャリブレーションできます。ZEISS EVO 40の設計は、動作時間が長いにもかかわらず最適な性能を確保するため、システム全体で高効率の冷却メカニズムを備えており、サンプルの損傷を防ぎながら一貫した温度を維持します。EVO 40は、EBSD、 CL、エネルギーフィルタ画像などのより一般的なSEM分析技術に加えて、EDSやWDS分析などの高度な分析機能を提供しています。FESEMはまた、材料のサイズ、形態、化学、結晶組成を測定できる高度な分析の一環として、強力な粒子分析パッケージを誇っています。最後に、ZEISS EVO 40は、計測器とプロセスのサンプル分析を制御するオートメーションパッケージを提供し、ユーザーは反復的な操作をすばやくプログラムし、高速でデータを収集し、さらには画像分析を自動化することができます。全体的に、EVO 40は、可能な限り最高のイメージングと分析性能を提供する高度なスキャン電子顕微鏡です。高解像度イメージング、強力なX線分析、高度な分析機能、自動化されたサンプル制御を組み合わせることで、オールインワン顕微鏡で最高の性能を必要とするあらゆるラボに理想的な機器となります。
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