中古 ZEISS EVO 40 #293592536 を販売中

ZEISS EVO 40 Scanning Electron Microscope （SEM）は、ナノスケールでの標本の検査に使用される高解像度イメージングツールです。1mmの最大作動距離、5nmの小さなスポット視野（FOV）、最大5µmの解像度を備えたEVO 40は、非常に精密なイメージングと分析に最適です。ZEISS EVO 40は、コールドフィールドエミッションガン（FEG）と薄膜コーティング機能を備えた収差補正型SEMです。FEGは非常に焦点を絞った電子ビームを作成し、低ノイズと非常に良いエッジ定義で非常に滑らかな表面画像を生成することができます。薄膜コーティング処理により、試験片の表面に薄い保護層を提供し、電子ビームの高い検出性とコントラストを可能にします。EVO 40にはバックスキャッター検出器と二次電子検出器があり、表面組成、粒度、その他の表面特性を含む様々な特性の非常に詳細な画像を得ることができます。ZEISS EVO 40には、高度な画像解析を提供する高度なソフトウェアも含まれています。3D再構築、ラインスキャン、高度なコントラスト法などの高度な測定およびイメージングツールも利用できます。これらのツールを使用すると、形態、面積および寸法測定、表面粗さおよび結晶度、および複雑なデバイス構造などのさまざまな測定を実行できます。さらに、EVO 40は、互換性と安全性を確保するために、さまざまな試料ホルダーを提供しています。ZEISS EVO 40は、高性能光学および走査型電子顕微鏡メインユニットで構成されています。この装置は、安全な操作とメンテナンスのために設計されており、内蔵の安全システム、温度監視および警告システム、および安全な使用を確保するために顕微鏡をロックするための独立したキーなどの機能を提供します。ユーザーインターフェイスは直感的で、シンプルなグラフィックユーザーインターフェイスと高度な測定およびイメージングツールを提供します。EVO 40は、独自の高精度イメージング機能を手頃な価格で提供し、幅広い用途に最適なSEMです。パーソナルインターフェース、正確なイメージング、信頼性の高いコーティングおよび検出器を備えたZEISS EVO 40は、顕微鏡の研究および分析に最適なツールです。