中古 ZEISS EM 109 #293610285 を販売中

ZEISS EM 109走査型電子顕微鏡（SEM）は、幅広い材料の表面形態とナノ構造を高解像度で立体的にイメージングすることを可能にする高性能分析装置です。直径25ミリまでの試料を収容できる大容量のチャンバーを備えており、元のサイズの40万倍まで試料を拡大することができます。SEMは、サンプルの様々な特徴を検出するための二次および後方散乱電子検出器、および周囲のサンプルの元素組成を検出するためのエネルギー分散分光（EDS）検出器を備えています。EM 109 SEMは、試験片と環境との相互作用を最小限に抑える高真空システムを搭載しており、正確な画像取得が可能です。その高解像度イメージングと構造と元素組成を検出する能力は、微細な表面の特徴とナノ構造を分析するための理想的なツールです。1ナノメートルまでの解像度を実現することができるため、SEMは表面と関連するナノ構造の細部を解像することができます。ZEISS EM 109 SEMのイメージング機能は、ナノメートル分解能で最大55mmの移動を可能にする自動ステージによってさらに強化されています。自動化された画像ステッチと自動露出は、正確で再現性のある画像を提供し、画像データの取得に必要な時間を大幅に短縮します。これにより、大面積サンプルの高解像度画像を迅速に取得できます。EM 109 SEMには、データ取得と分析の両方のための包括的なソフトウェアスイートも組み込まれています。これにより、自動化されたイメージングおよび解析だけでなく、後処理された分析も可能になり、3D再構成と体積画像を作成して、サンプルの微細構造をさらに洞察することができます。ZEISS EM 109 SEMは、そのイメージング機能に加えて、材料特性評価のための優れたプラットフォームであり、幅広いデジタルおよび測定解析ツールをユーザーに提供します。SEMは、高度なハードウェアとソフトウェアシステムを組み合わせることで、サンプル寸法をナノメートルレベルの精度まで正確に測定できます。また、原子列のずれ、粒界および平面欠陥を検出し、粒度と向きを定量化し、表面粗さを特徴付ける機能も備えています。全体として、EM 109 SEMは非常に貴重で汎用性の高いツールであり、科学者はさまざまな材料の詳細な分析と特性評価を行うことができます。高解像度イメージング機能と強力なデータ解析ツールにより、サンプルの微細構造と原子の特徴に関する非常に貴重な洞察をユーザーに提供できます。