中古 ZEISS DSM 960 #293799033 を販売中

ZEISS Scanning Electron Microscope （SEM）は、電子ビームを利用して、数倍から100万倍以上の倍率で表面の高分解能画像を生成する高度な画像処理装置です。SEMは、ナノスケールのレベルでサンプルの形態や組成に関する詳細な情報を提供する能力のために、材料科学、生物学、ナノテクノロジー、地質学などの様々な分野で不可欠なツールです。ZEISS SEMの中心には、電子の集光ビームを生成する電子銃があります。このビームは、高いエネルギー（通常は1〜30 keV）に加速され、電磁レンズを使用してサンプル表面に焦点を合わせます。電子ビームがサンプルと相互作用すると、二次電子、後方散乱電子、特徴X線、陰極発光など、さまざまな信号が生成されます。これらの信号には、サンプルの地形、組成、結晶構造に関する貴重な情報が含まれています。一次電子ビームとの相互作用により、サンプル表面から二次電子が放出されます。これらの電子は検出器によって収集され、表面に関する地形情報を提供します。一方、後方散乱電子は、原子核との相互作用のために試料から後方に散乱している電子です。逆散乱された電子の検出は、特に高Z材料のイメージングと組成コントラストの取得に有用である。ZEISS SEMは、イメージングに加えて、エネルギー分散型X線分光法（EDS）を実行して、サンプルの元素組成を解析することもできます。電子ビームが試料に当たると原子を励起し、特徴的なX線を放出します。SEMに統合されたEDSシステムは、これらのX線を検出して定量することができ、サンプル内に存在する元素とそれぞれの濃度を識別することができます。ZEISS SEMは、フィールドエミッションSEM （FE-SEM）や環境SEM （ESEM）などの高解像度イメージングモードを含む高度なイメージング機能を備えています。FE-SEMは、従来のタングステンフィラメント電子源と比較して、より高いビーム輝度と改善された解像度を提供する場の放出電子源を採用しています。これにより、優れた表面ディテールとナノスケールの特徴を鮮明に画像化できます。ESEMは、サンプル調製を必要とせずに、高湿度や低真空などの環境条件下でのサンプルのイメージングを可能にします。この汎用性により、ZEISS SEMは、従来の高真空イメージング条件に敏感な生物学的サンプル、水和材料、その他のサンプルを研究するための貴重なツールとなります。さらに、ZEISS SEMには、画像取得、処理、解析のための高度なソフトウェアが搭載されています。このソフトウェアは、自動画像取得、サンプルの3D再構築、要素マッピング、および粒子分析を可能にします。ZEISS SEMから得られたデータは、材料の特性評価、故障メカニズムの調査、粒度分布の解析、ナノスケールの生体構造の研究に利用できます。結論として、ZEISS Scanning Electron Microscopeは、幅広いサンプルの高解像度イメージングおよび元素分析のための強力なツールです。高解像度イメージングモード、EDS解析、環境イメージングなどの高度な機能により、さまざまな科学分野の研究開発に不可欠なツールとなっています。