中古 ZEISS Crossbeam 1540 EsB #9314992 を販売中

ZEISS Crossbeam 1540 EsB Scanning Electron Microscope （SEM）は、研究、産業、ライフサイエンスのアプリケーション向けに設計された高性能プラットフォームです。これは、非常に高解像度のイメージングのための二軸デフレクタと二次電子検出器を含む検出器パッケージが装備されています。さらに、この装置は、ZEISS WorkSpaceソフトウェアを内蔵した電子ビームイメージングおよび分析システムと同様に、高度で自動化されたサンプル準備およびナビゲーションと統合されています。SEMは、0〜30kVの電圧範囲と最大15kVの加速電圧を備えており、最大500 μ mの厚さのサンプルを撮影することができます。サンプルチャンバーは最大200kgの重量を保持でき、自動およびプログラム可能な圧力、クライオ調製、真空ポンプなどの機能を備えています。この検出器ユニットには、高解像度、エネルギー濾過イメージング、逆散乱電子イメージング、およびEDS （Energy Dispersive Spectroscopy）が含まれています。電子光学系には3つのたわみコイルが搭載されており、2次電子モードでは最大6nmの分解能、STEM （Scanning Transmission Electron Microscopy）モードでは最大0。7nmの分解能を提供します。Crossbeam 1540 EsB SEMには、自動スライドトランスポート、3軸サンプルステージ、6軸サンプルステージ、テーブルトップサンプルマニピュレータなどのサンプルナビゲーションと操作機能があります。ナビゲーションマシンは、高度なユーザーインターフェースにより、手動のサンプルアライメント、ナビゲーション、フォーカスを可能にし、非常に効率的です。SEMには、自動サンプル検索、アライメント、分析/レポート機能などのオートメーションオプションも含まれており、高いサンプルスループットを実現します。さらに、パーティクルサイズや形状解析の自動化、サンプルの積み降ろしの自動化、電子ビームスキャナの二軸駆動などの機能が組み込まれています。さらに、SEMには最大200kgのステージ負荷と堅牢なデータレポートおよび統計分析ツールが含まれており、信頼性が高く一貫した結果を得ることができます。ZEISS Crossbeam 1540 EsB SEMは、幅広いサンプルをイメージングおよび分析するための汎用性と強力なツールです。研究者や産業科学者に高度なイメージングと分析機能を提供し、高精度で包括的なサンプル分析を可能にします。このツールは、解像度、スピード、高スループット機能を備えており、さまざまなアプリケーションに効率的でユーザーフレンドリーなプラットフォームを提供します。