中古 TOPCON SM 350 #293671431 を販売中

TOPCON SM 350
製造業者
TOPCON
モデル
SM 350
ID: 293671431
Scanning Electron Microscope (SEM).
TOPCON SM 350は、高度な機能を備えた高速・高解像度イメージング・解析機器を必要とするお客様向けに設計された走査型電子顕微鏡(SEM)です。このシステムは自動化されたステージを備えており、サンプルの画像を素早くキャプチャすることができます。SM 350は、焦点深度が1マイクロメートル未満のデジタル分析機器です。また、二次電子イメージングと後方散乱電子イメージングの両方を可能にする、1kV/5kVなデュアルアパーチャ設計を備えています。統合された周波数コンバータを使用すると、SEMは可変圧力測定にも使用できます。TOPCON SM 350の高性能イメージングユニットは、最大0。1nmの解像度で画像を生成し、微細構造の検査に最適です。さらに、微細な動き制御とオートフォーカスを備えた統合された自動ステージにより、正確で再現性の高い測定が可能です。SM 350は、超低ノイズ、低バックグラウンドツールを備えた市場でも数少ないSEMの1つです。これにより、より大きなコントラストとディテールで画像やスペクトルを収集することが可能になり、分析の力を高めます。これに加えて、TOPCON SM 350の高速画像生成機能をテストし、毎秒700以上の画像を生成しています。これにより、ダイナミックイメージングと解析のための貴重な選択肢となります。SM 350は、簡単なイメージングから広範なX線分光まで、さまざまな実験に対応できる汎用性の高いアセットです。また、データの可視化、測定、分析を可能にする統合分析モデルも備えています。全体として、TOPCON SM 350は、高分解能、高速イメージング、および精密測定のための分析を提供する高度な走査型電子顕微鏡です。1kV/5kVのデュアルアパーチャ設計と超低ノイズ、低バックグラウンド機器を備えており、優れたコントラストとディテールを可能にします。さらに、統合されたオートメーションと微細な動き制御により、再現可能な測定が可能です。これにより、綿密な調査と分析に理想的な選択肢となります。
まだレビューはありません