中古 TOPCON SM 300 #9392715 を販売中

製造業者
TOPCON
モデル
SM 300
ID: 9392715
Scanning Electron Microscope (SEM).
TOPCON SM 300は、高度な明るさと解像度を備えた走査型電子顕微鏡で、幅広いサンプルの高倍率画像を提供します。これは、最適なイメージング雰囲気を確保し、汚染の影響を最小限に抑えるユニークで超音波真空チャンバーを備えています。SM 300には、高度で堅牢な電界放出電子源が搭載されており、50nmの優れたコントラストと解像度で画像を取得することができます。また、静止画、リアルタイムシーケンス、4次元および3次元画像をキャプチャすることができます。TOPCON SM 300の空間分解能は、特殊なコンデンサーレンズを使用し、デフォーカスとサンプル傾斜角度を調整することで向上させることができます。この技術により、最大10nmの分解能でサンプル表面の情報をキャプチャすることができます。この顕微鏡は、サンプルをすばやく簡単に分析できる分析ソフトウェアによって駆動されます。このソフトウェアは、注釈付きの画像を作成したり、サーフェスのフィーチャーとテクスチャを分析したり、3Dプロファイルを作成したり、サーフェスのフィーチャーを自動的に測定したりできます。SM 300には、元素解析、自動粒子検出、熱解析、結合解析などの強力なデータ解析および可視化ツールが搭載されています。また、データのカスタマイズされたレポートや分析を作成することもできます。全体として、TOPCON SM 300は多目的で信頼性の高い走査型電子顕微鏡です。堅牢な設計、優れた明るさと解像度、強力なデータ分析および可視化ツールにより、幅広い研究および試験ラボに最適です。
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