中古 TOPCON SM 300 #9374722 を販売中

TOPCON SM 300は、研究用および産業用に設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。1。8nmの解像度と最大30kVの電圧範囲で、高解像度の画像やデータを迅速かつ簡単に生成することができます。SM 300には、ラップド、セロップ、X線強度解析などの自動解析機能を備えたSC-9100 EDX装置が搭載されています。EDXシステムにより、1つのサンプルで複数の要素を同時に検出できます。自動化された画像データ取得により、ユーザーは広範囲を簡単にスキャンし、最大限の効率で画像を生成することができます。SEMは、明るさ、コントラスト、スティグメーション、フォーカス、およびその他の既製の設定の広い範囲で二次電子イメージングに取り組んでいます。TOPCON SM 300は、デジタル画像処理により、最大128メガピクセルの画像を生成し、詳細な分析と解釈を行うことができます。SM 300は、地形サンプルを統合した高解像度イメージングも可能です。この機能を使用すると、別の分析を必要とせずに、地形情報と顕微鏡情報の両方を含む画像を生成できます。さらに、TOPCON SM 300は、3D TOMユニットを使用して高度な3Dイメージングを行うことができ、サンプルの構造、組成、地形を容易に可視化できます。SM 300には、傾き、ねじれ、回転が可能なサンプルステージも装備されており、より正確なイメージングが可能です。高速で高解像度の自動Z軸調整により、目的の領域に簡単に集中できます。TOPCON SM 300は、高解像度の画像やデータを素早く簡単に作成できる高性能SEMです。EDXマシン、自動画像データ取得、高度な画像処理、および地形サンプル統合機能を備えたSM 300は、研究および産業環境にとって非常に貴重なツールです。