中古 TOPCON SM 300 #9220578 を販売中

TOPCON SM 300は、卓越した精度で優れたイメージングを提供するように設計された先進的な走査型電子顕微鏡（SEM）です。電子光学やスキャンステージ技術を駆使し、顕著な明瞭さを持つ小物の高解像度画像を生成します。SM 300は、5倍から最大300,000xまでの広範囲の拡大画像を提供します。ナノメートルの解像度で特徴を詳述し、非常に正確な被写界深度の画像を作成することができます。この機能により、原子レベルでのイメージングが可能になり、幅広い材料の詳細な検査と分析が可能になります。TOPCON SM 300で使用されている電子銃はエネルギーフィルタで、研究者は電子ビームのエネルギーを操作して高品質の画像を生成することができます。この機能は、より詳細なレベルを得るために使用することができ、表面微細構造や粒界などの小規模な特徴を調べることができます。SM 300は、10〜100ピコメーターの粒子を検出できる高感度検出器を採用しています。これにより、研究者は非常に高い精度で特徴を識別し、サンプルに関する定量的な情報を得ることができます。また、自動化された画像処理機構を備えており、スキャナから得られたデータを迅速かつ正確に評価することができます。また、サンプルの円形スキャンが可能な高解像度ステージを搭載し、短時間で大型画像を取得することが可能です。TOPCON SM 300は、広範囲のサンプル領域で非常に小さな機能をマッピングすることも可能で、多次元研究にも利用可能です。強力な自動データ解析システムを搭載しており、研究者はサンプルの分析と評価を迅速に実行できます。SM 300から得られた詳細を使用して、サンプルの形態、組成、構造を高い精度で評価することができます。また、ナノスケール材料の研究や、様々な分野の新しい材料特性の研究にも活用できます。