中古 TOPCON MI-3080 #9150383 を販売中

TOPCON MI-3080は、幅広い標本材料の高解像度イメージングおよび解析用に設計されたマルチモードスキャン電子顕微鏡（SEM）です。低電圧環境SEM （E-SEM）に加え、低真空および高真空スキャン電子顕微鏡（SEM）を備えた最先端の装置です。統合されたデジタルエレクトロニクスにより、汎用性が高く、基本イメージングから複雑な3D解析まで、さまざまな用途に適しています。この装置は、最大2ナノメートルの解像度と0。8nmの深さの印象的な焦点で高精細イメージングを可能にするデジタルイメージングシステムを誇っています。MI-3080の柔軟な設計と高度なベローズ型ステージにより、300mm x 290 mmまでの試験片のスムーズなイメージングが可能です。さらに、このユニットはユーザーフレンドリーに設計されているため、初心者でも素早く稼働できます。高度な解析のため、TOPCON MI-3080は幅広い機能を備えています。この装置には、中低電圧イメージング機能を備えた逆散乱電子（BSE）検出が含まれています。低電圧モードではBSED、中電圧モードではSEバックスカッタリングイメージング、低電圧および中電圧ではガス検出器セカンダリ電子イメージング（GADSEI）などのさまざまなイメージング技術も搭載されています。元素解析には、4Kスペクトル分解能MI-3080持つエネルギー分散型X線（EDS）マシンや、高解像度の元素マッピング用の波長分散型X-Ray （WDS）ツールなど、さまざまな検出器が装備されています。これらの検出は、位相解析、組成マッピング、粒度イメージングなどのさまざまな要素解析を実行するために使用できます。さらに、イオンおよび電子カラム解析用の荷電粒子検出器や各種ソフトウェアツールなど、いくつかのアクセサリと互換性があります。これにより、分析用FIB-SEM （Focus Ion Beam-Scanning Electron Microscopy）、 EBSD （Electron Backscatter Diffraction）、 3Dプリンティングなど、幅広い3D解析に優れた機能を提供します。全体として、TOPCON MI-3080は、高解像度のイメージングと幅広い標本材料の分析を可能にするように設計された高度なマルチモードSEMです。包括的なイメージング機能、汎用性の高い資産設計、高度な分析機能により、幅広いアプリケーションに最適です。