中古 TOPCON DS 720 #9407852 を販売中

TOPCON DS 720は、様々な試料材料の高解像度イメージングと解析を行う走査型電子顕微鏡（SEM）です。この装置は、ナノスケールのイメージングから冶金表面分析まで、さまざまな分析タスクに適しています。DS 720はショットキー電界放出（FEI）電子源を利用して、試料材料の高分解能イメージングを可能にします。この電子源は非常に安定で均一であり、記録された画像の信号対ノイズ比を改善することができます。さらに、TOPCON DS 720は可変圧力イメージングチャンバーを備えており、サンプルに幅広い圧力を印加することができます。この可変圧力システムは、イメージングされるサンプルの種類に応じて、さまざまな大気条件でのイメージングを可能にします。さらに、この装置の電界放射銃には、アクティブ温度および放出電流安定化システムが含まれており、イメージングノイズをさらに低減するのに役立ちます。DS 720は、最大20,480xの非常に広い倍率設定を提供します。これにより、分析を行う際に非常に柔軟性が得られます。この電気および磁界誘導カラムは、一連のクローズドループ制御システムによって駆動され、設定を変更するときの正確さを可能にします。さらに、このカラムは広範囲の設定で非常に効率的であり、ミラーは中距離拡大用に最適化されています。さらに、この装置には、ナノメートルスケールでの画像処理用に設計されたSTEM検出器が装備されています。この装置は、エネルギー分散型X線分光法（EDS）やオーガー電子分光法（STEM-AES）など、さまざまな元素解析技術も可能です。これらのツールを使用すると、サンプル材料を素材の組成や構造を素早く正確に分析できます。TOPCON DS 720は、さまざまな分析および画像処理のための非常に有能な機器をユーザーに提供します。高度な制御システムとイメージングシステムにより、ナノスケールの解像度で材料の詳細な分析とイメージングが可能です。このツールでは、さまざまな元素解析技術を使用することができ、分析機能をさらに拡張することができます。DS 720は、同様に研究や産業アプリケーションのための優れた選択肢です。