中古 TOPCON ABT-32 #9259781 を販売中

TOPCON ABT-32は、材料科学および品質管理における幅広い用途向けに設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。これは、優れた信号対ノイズ比と高分解能イメージング機能を備えた高度な二次電子（SE）検出器を備えています。薄膜やサブミクロンレベルの形状を正確に解析することができます。ABT-32は、高出力の電子源、イメージングコラム、マイクロプロセッサ、サンプルホルダー、および検出器の配列で構成されています。その電子源は、1から15キロ電子ボルト（keV）までの範囲のエネルギーを供給することができます。そのイメージングコラムは、最大260xの倍率を可能にする調整可能なMFOV （Magnification-Field-of-View）システムを備えています。特に設計されたインコラムZバランスにより、ユーザーは分析の安定性と速度を素早く調整できます。マイクロプロセッサは、最大10フレーム/秒で16ビットの画像を分析することができ、最大かつ最も詳細なサンプルでも高速な分析が可能です。そのサンプルホルダーは、サンプルサイズと材料の範囲を収容することができます。そして、その検出器は、より小さな粒子を識別し、細かい詳細を収集することを容易にします。SE検出器は、薄膜やサブミクロンの形状を正確に解析するためのものであり、エネルギー分散分光法（EDS）やX線マッピングのための二次および後方散乱検出器を備えています。TOPCON ABT-32の高度な機能により、さまざまな材料の詳細な画像処理が可能です。その効率的なスキャン手順により、薄膜やサブミクロン形状の詳細な解析に最適で、利用可能な最高レベルの精度と精度を保証します。様々な検出器と便利なサンプルホルダーを備えたABT-32は、あらゆる材料科学および品質管理アプリケーションに最適なツールです。