中古 THERMO FISHER SCIENTIFIC / PHILIPS / FEI Verios G4 #293800547 を販売中
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ID: 293800547
ヴィンテージ: 2020
Extra High Resolution Scanning Electron Microscope (XHR SEM)
R560 P/N: 1130751 SE Detector
P/N: 1127809 Plasma cleaner
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Operating system: Windows 7
PC
2020 vintage.
FEIは、PHILIPSおよびTHERMO FISHER SCIENTIFICと共同で、高解像度イメージングおよび分析能力の最新の進歩を表すTHERMO FISHER SCIENTIFIC/PHILIPS 4/FEI ERIRIIOS OS V4 SCELEL4 SCANELELELCECE ECE ELの電子顕微鏡を導入しました。FEI Verios G4は、優れた明瞭さと精度でナノスケール構造と材料を調査するための強力なツールを研究者に提供するように設計されています。PHILIPS Verios G4 SEMの主な特徴の1つは、超高解像度の機能であり、サブナノメートルイメージングと分析性能を提供します。これは、優れた明るさと安定性を持つ高集積電子ビームを提供するフィールドエミッションガン（FEG）電子源を組み込むことによって可能になります。Verios G4は、優れたディテールとコントラストを持つ画像を生成することができ、研究者は原子スケールでサンプルを視覚化し、分析することができます。THERMO FISHER SCIENTIFIC Verios G4には、さまざまなイメージングおよび分析技術を可能にする高度な検出システムが搭載されています。ETD （Everhart-Thornley Detector）は、高信号からノイズへのイメージングのための汎用性の高いエバーハート-ソーンリー検出器、および表面に敏感なイメージングのためのIn-Beam Secondary Electron （IB-SE）検出器を備えています。さらに、THERMO FISHER SCIENTIAL/PHILIPS/FEI Verios G4は、エネルギー分散X線分光法（EDS）および電子逆散乱回折（EBSD）のオプションを提供しています。性能面では、FEI Verios G4 SEMは高いスループットと生産性を実現するために最適化されています。これは、ユーザーの介入を最小限に抑えて、大規模なサンプルエリアの高速な画像取得とマッピングを可能にする高速ビームスキャンシステムを備えています。また、SEMは高度な自動化と画像処理ソフトウェアを統合し、データ分析と解釈のための合理化されたワークフローを可能にします。PHILIPS Verios G4は、操作と実験の容易さを容易にするユーザーフレンドリーなコントロールと直感的なソフトウェアインターフェイスで設計されています。このシステムには、高解像度イメージング、低電圧イメージング、ビーム減速イメージングなど、さまざまなサンプルタイプや分析要件に対応するさまざまなイメージングモードが装備されています。SEMは、画像の強化、定量化、3D再構築のための高度な画像処理ツールも提供しています。Verios G4 SEMは、材料科学、ライフサイエンス、ナノテクノロジー、半導体技術などの分野で研究および産業アプリケーション用に構築された堅牢で信頼性の高い機器です。ナノ粒子、高分子、生体試料、半導体デバイスなど、幅広いサンプルの研究に適しています。結論として、THERMO FISHER SCIENTIFIC Verios G4 Scanning Electron Microscopeは、ナノスケールのイメージングと分析のための最先端のプラットフォームです。THERMO FISHER SCIENTIFIC/PHILIPS/FEI Verios G4は、超高解像度イメージング機能、汎用性の高い検出システム、およびユーザーフレンドリーなインターフェイスを備えており、これまでにない明瞭さとディテールで顕微鏡の世界を探索するための強力なツールを研究者に提供しています。
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