中古 THERMO FISHER SCIENTIFIC / PHILIPS / FEI Tecnai F20 #293826742 を販売中

THERMO FISHER SCIENTIFIC/PHILIPS/FEI Tecnai F20は、超高倍率と解像度と最先端技術を組み合わせた高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）です。F20は、従来の低真空モードおよび環境モードでのイメージングが可能であり、異なる条件下での優れたサンプル表示を可能にします。F20は、x100からx500,000までの広範囲の倍率を備えています。この高倍率は、最小の粒子や構造の詳細な画像を生成することができます。F20はまた、画像やスキャンの形で情報をキャプチャするために、さまざまな検出器を利用しています。これらの検出器の例には、二次電子検出器、後方散乱電子検出器、X線分光計などがあります。F20はまた、サンプルの視野角の可変範囲を提供する高度な傾斜システムを備えています。このシステムは、最も詳細な画像やスキャンをキャプチャするためにサンプルの位置と方向を指定するために使用されます。ステージの調整可能なジオメトリを利用することで、F20は大きな領域だけでなく、信じられないほどの解像度で小さな深さを撮影することができます。F20はまた、環境機能の広い範囲を備えています。環境試料チャンバーは、温度、湿度、圧力条件を変化させて現実の条件を再現することができます。これらの環境設定により、ユーザーはその場でサンプルのデータをキャプチャし、さまざまなシナリオでその挙動を観察することができます。F20には自動ステージも装備されており、再現性と正確なスキャンが可能です。この機能により、データ収集に要する時間が大幅に短縮され、ユーザーはサンプルを手動で再配置することなくスキャンを完了できます。さらに、F20にはProxTemplateという高度な機能も搭載されており、詳細なサーフェスデータを効率的に収集することができます。この特徴は、同位体分布と表面トポロジーの測定に特に役立ちます。結論として、FEI Tecnai F20は、広範囲の環境オプションを備えた超高倍率および分解能を可能にする高度な走査型電子顕微鏡です。その高度な機能は、小粒子の構造を研究し、詳細な表面データを収集するための研究者のための貴重なツールとなります。