中古 TESCAN XAI3 #293830549 を販売中

TESCAN XAI3
製造業者
TESCAN
モデル
XAI3
ID: 293830549
Plasma Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (PFIB-SEM).
TESCAN XAI3は、高分解能イメージング、表面解析、ナノスケール特性評価に幅広い科学および産業用途で使用される、最先端の走査型電子顕微鏡(SEM)です。電子顕微鏡ソリューションのリーディングメーカーであるTESCANによって開発されたXAI3は、今日の研究開発ニーズに応えるために高度なイメージング機能と直感的な操作を提供します。TESCAN XAI3には電界放出電子源が搭載されており、超高分解能でサブナノメートルレベルまでの画像処理に非常に集中した電子ビームを提供します。これにより、科学者や研究者は、高精度で詳細なサンプルを研究することができ、微細な表面特徴、ナノ粒子、およびナノ構造の可視化を可能にします。XAI3の重要な特徴の1つは、高度な電子光学と強力な検出器によって達成される優れたイメージング性能です。この顕微鏡は、コントラストと明瞭さを高めた高品質の画像を生成することができ、ナノスケールのレベルでの表面形態、組成、および地形の観察を可能にします。TESCAN XAI3には、二次電子(SE)イメージング、逆散乱電子(BSE)イメージング、エネルギー分散X線分光法(EDS)解析などの複数のイメージングモードが装備されています。これらのイメージングモードにより、元素組成、結晶構造、化学結合など、サンプルに関するさまざまな種類の情報を取得できます。イメージング機能に加えて、XAI3は、ナノスケールでサンプルを定量化および特性評価するための高度な分析ツールを提供しています。この顕微鏡は、画像処理、測定、分析のためのソフトウェアと統合されており、ユーザーは貴重なデータを抽出し、実験から定量的な結果を生成することができます。TESCAN XAI3は、顕微鏡の操作を合理化し、ユーザーエクスペリエンスを向上させるユーザーフレンドリーな機能で設計されています。このインストゥルメントには直感的なグラフィカルユーザーインターフェイス(GUI)が装備されており、画像パラメータの簡単なナビゲーションと制御を容易にし、初心者でも経験豊富なユーザーでもアクセスできます。さらに、固体材料、生体試料、薄膜、ナノ粒子など、幅広いサンプルの種類やサイズに対応できる汎用性の高い機器をXAI3しています。この顕微鏡には複数の検出器とサンプルホルダーが装備されており、さまざまなサンプルやアプリケーションのイメージング条件を最適化します。TESCAN XAI3は、ハイスループットイメージングおよび分析用に設計されており、ユーザーは大規模なデータセットを効率的に取得し、研究ワークフローを迅速化することができます。この顕微鏡は、バッチイメージングと解析のための自動モードで動作するため、高速なデータ収集と処理が可能です。全体として、XAI3は強力で汎用性の高い走査型電子顕微鏡で、優れたイメージング機能、高度な分析ツール、および幅広い科学および産業用途向けの直感的な操作を提供します。TESCAN XAI3は、材料科学、生命科学、またはその他の研究分野において、研究者にナノスケールの世界を探索し、複雑な材料や構造の理解を促進するための貴重なツールを提供します。
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