中古 TESCAN VEGA III #293633662 を販売中

TESCAN VEGA III走査型電子顕微鏡（SEM）は、先端材料や生体試料の研究用に設計された汎用性の高い、高度に自動化されたユーザーフレンドリーな機器です。これは、高生産性のイメージングおよび分析ツールと、サンプル分析および品質管理のための複数の検出器を組み合わせた完全に統合されたプラットフォームです。VEGA IIIには、高輝度、高安定性、長期間の性能を提供する電圧と作業距離の様々なフィールド放射源が装備されています。電子機器には調整可能な客観的開口があり、球面収差補正器（C S）はプライムビームの傾きとシフトを可能にして解像度を最適化します。このシステムには、革新的で特許取得済みのSmartSCAN™スキャン技術が搭載されています。高感度、解像度、高速スキャン速度を提供し、従来のSEMよりも高速な画像取得を可能にします。最大5nm@35kVの解像度で最大5mm²の領域をスキャンし、1nm@2kVのはるかに高い解像度でスキャンすることができます。検出ユニットは、Everhart-Thornley Secondary Electron Detector （ETD）とBrazilian Pt Si Detector （BPSD）の2つのセンサーで構成されています。ETDは、広いエネルギー範囲で最高レベルのイメージングコントラストと優れたエッジ定義を提供し、BPSDはこれまでにない検出品質とひずみマッピングを備えた拡張された高エネルギーのイメージングを提供します。また、高いスペクトル分解能と高いスペクトル効率の独自の組み合わせによるEDS解析、サブミクロンの位置決め精度、安定性が高く、統合されたPiezo Scannerによる非接触測定が可能な、マイクロプローブ解析などの高度なアプリケーションもサポートされています。TESCAN VEGA IIIは操作が簡単で、装置の状態を継続的に監視し、その性能を監視できる自動診断機を備えています。これにより、最大の稼働時間と再現性のある結果が保証されます。このツールは、検出器、サンプルステージ、冷却装置などの幅広いアクセサリと互換性があり、究極の柔軟性と使いやすさを可能にします。