中古 TESCAN MIRA-3 BN Kit B #293743038 を販売中

**TESCAN MIRA-3 BN Kit B： Scanning Electron Microscopeの包括的な概要**MIRA-3 BN Kit Bは、幅広い科学および産業用途において比類のないイメージング機能と分析性能を提供する最先端のスキャン電子顕微鏡（SEM）です。最先端の技術と最先端の機能を備えたTESCAN MIRA-3 BN Kit Bは、高解像度のイメージング、元素分析、3D特性評価を、卓越した精度と効率で提供するように設計されています。BN Kit B MIRA-3、高輝度と安定性を提供する高性能フィールドエミッションガン（FEG）電子ソースを備えており、優れた画像品質とサンプルコントラストを保証します。200V〜30kVの動作電圧範囲で、導電性材料から非導電材料まで、さまざまなサンプルのイメージングに優れた汎用性と柔軟性を提供します。TESCAN MIRA-3 BN Kit Bの重要な特徴の1つは、高度な後方散乱電子（BSE）検出器、二次電子（SE）検出器、エネルギー分散X線分光法（EDS）システムを含む高度な電子検出システムです。これらの検出器は、高い空間分解能と感度を持つサンプルの精密なイメージングと元素分析を可能にし、研究者はサンプルの組成と構造に関する詳細な情報を得ることができます。さらに、MIRA-3 BN Kit Bには革新的なビーム減速モードが搭載されており、ビームエネルギーを低減して低電圧および高解像度のイメージング条件を最適化することができます。この機能は、画像品質やサンプルの完全性を損なうことなく、敏感でビームに敏感なサンプルをイメージングするために特に有益です。TESCAN MIRA-3 BN Kit Bのもう1つの特長は、モーター式のX-Yステージ、Zピエゾステージ、5軸モーター式チルト回転ステージを含む高度なステージ設計です。これらのステージにより、サンプルの正確な位置決めと操作が可能になり、複数の角度と向きからのサンプルのイメージングが容易になり、包括的な3D特性評価と分析が可能になります。さらに、MIRA-3 BN Kit Bは、カソドルミネッセンス（CL）イメージング、電子後方散乱回折（EBSD）マッピング、電子トモグラフィーなど、幅広いオプションのアクセサリや分析ツールと互換性があり、高度なイメージングおよび分析タスクの能力をさらに高めています。また、TESCAN MIRA-3 BN Kit Bは、直感的で使いやすいソフトウェアインターフェイスを備えており、顕微鏡の制御、画像の取得、データの分析を容易に行うことができます。ソフトウェアパッケージには、イメージステッチ、自動画像取得、定量画像解析などの強力なイメージングおよび分析ツールが含まれており、研究者はサンプルから貴重な情報を効率的に抽出することができます。結論として、BN Kit B MIRA-3最先端の走査型電子顕微鏡であり、優れたイメージング機能、分析性能、および幅広い科学および産業用途向けの汎用性を提供します。TESCAN MIRA-3 BN Kit Bは、高度な技術、革新的な機能、ユーザーフレンドリーなインターフェースを備えており、高品質のイメージングおよび分析ソリューションを求める研究者や業界の専門家に最適です。