中古 SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO XV-300DB #9257399 を販売中

SIIナノテクノロジーSII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB走査型電子顕微鏡は、微小粒子の検査に使用される先進的な研究機器です。可変圧力走査型電子顕微鏡（SEM）で、高真空・低真空（10-4未満）環境での動作が可能です。これにより、より広範囲のサンプル特性と、マイクロ粒子とナノ粒子の化学的および物理的特性評価が可能になります。SEIKO XV-300DBは、カソドルミネッセンス（CL）銃、バックスキャッター電子（BSE）銃、セカンダリ電子銃（SE）などの電子源の組み合わせを利用しています。CL銃は、オートフォーカス制御と共に高い空間分解能を可能にする無色のシステムを使用しています。BSE銃は、より良いイメージングコントラストを達成するのに役立つ自動二次電子検出器を使用しています。SEガンは静電気レンズを採用し、粒子表面の高解像度画像を提供します。拡大制御のために、SII NANOTECHNOLOGY XV-300DBは指先制御の特許取得済みの高度なデジタルズーム技術を組み込みます。これにより、ユーザーは興味のある領域に選択的にズームして、より細かい分析ポイントを得ることができます。さらに、XV-300DBは3つの動作モードを提供しています：手動、半自動、および効率的で正確なイメージングと分析を可能にするフルオートモード。SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DBは標本検査のための特別な特徴を提供します。より広いサンプルチャンバーにより、より重い試料を最大500グラムまで使用でき、レスポンシブオートクリーン操作により、迅速な試料交換が可能です。また、スパッタコーティング、メタライズ、重合などのユーザー指定の調製技術も可能です。SEIKO XV-300DBでは、サンプル組成の分析的洞察、サブサーフェスイメージング、ウルトラシャープイメージング、表面面積測定など、さまざまな相互作用モードに基づいた専門的なイメージング技術を提供しています。それはまた、複数の検出器で使用するために適応することができます：熱顕微鏡をスキャンし、熱解析と上昇エッジ検出のための原子力顕微鏡先端検出器。全体として、SII ナノテクノロジーSII NANOTECHNOLOGY XV-300DB scanning electronは粒子微細構造に囲まれた洞察力であり、データ分析とサンプル特性評価を大幅に向上させることができる微小物体を正確に調べる方法を提供します。